电化学法制备的CoFe2O4薄膜

首先在硫酸盐溶液中由电镀法制备CoFe2合金薄膜,然后采用阳极氧化法在碱性溶液中氧化CoFe2合金薄膜制备CoFe2O4薄膜,再在空气气氛中、600℃退火3h.用原子分光光度计(AAS)法测量合金中Co2 、Fe2 的含量.由质量法测定铁钴合金薄膜的厚度,研究了电镀CoFe2合金薄膜的工艺条件(电压、时间、温度)对CoFe2薄膜厚度的影响.分别用X射线衍射仪(XRD)、扫描电子显微镜(AFM)和振动样品磁强计(VSM)观测薄膜的相成分、表面形貌和磁性能.结果表明,制备的CoFe2O4薄膜具有尖晶石结构,退火促进了CoFe2O4薄膜的结晶,降低了饱和磁化强度,但增大了矫顽力.     

磁性薄膜高频磁导率测量方法及其研究进展

磁性薄膜广泛应用于信息存储、电磁兼容、磁传感器和微波通讯设备等众多领域,其高频复磁导率谱的准确测量是磁性薄膜研究中的一个重要课题。目前薄膜材料复磁导率的常用测量方法包括微波谐振腔法、检测线圈法和传输/反射法等。首先简要介绍了谐振腔法和检测线圈法,然后重点介绍了微波频率(GHz)下磁性薄膜传输/反射法磁导率测量近年来最新研究进展。