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1.
10年前,1台缝纫机、一台铰骨机,再加4个小裁缝,就是“一加一”的全部;10年后的今天,“一加一”已是一家融服装、饮食、电子、贸易以及百货等22家企业为一体的集团公司,属下员工1600多人。陈展鸿,当年的小裁缝之一,如今的“一加一实业有限公司”的董事长兼总经理,也正是在这短短的10年时间  相似文献   
2.
描述一个基于单片机的智能型电子清纱器的系统结构和实现方案。系统采用RS-485总线技术,利用单片机改造传统的模拟电子清纱器,采用软硬件结合的抗干扰措施,实现了实时数据采集,数据存储、数据打印等高级功能。文中阐述了系统各组成部分的功能和实现方案,重点介绍了主、从机之间的通信规约以及通信软件模块的编程思路。  相似文献   
3.
在可靠性筛选中检测具有潜在损伤的器件一直是个难题.对GaA lAs红外发光二极管(IRLED)功率老化前后低频噪声的测量发现,1/f噪声幅值与偏置电流的γ次方成正比(小电流区γ=1,在大电流区γ≈2),且老化后1/f噪声幅值比老化前增大2个数量级.基于载流子数涨落和迁移率涨落机制建立了一个GaA lAs IR LED的1/f噪声模型,分析结果表明GaA lAs IR LED的1/f噪声在小电流时反映体陷阱特征,大电流时反映激活区陷阱特征,1/f噪声的增加归因于功率老化诱生的界面陷阱和表面陷阱,1/f噪声可以用来检测GaA lAs IR LED s的潜在缺陷.  相似文献   
4.
为了实现AVR单片机对LED点阵显示系统的控制,采用ATmega128作为下位机MCU,通过接收上位机发送的显示内容和显示模式的串行信号,实现16×32高亮点阵屏的一行多个文字或符号的显示。系统实际运行稳定,显示效果良好,便于多块点阵屏的扩展,作为高职学生的大学生实践创新有较高的实践意义。  相似文献   
5.
利用RTS噪声确定MOSFET氧化层中陷阱位置的方法   总被引:2,自引:2,他引:0  
鲍立  包军林  庄奕琪 《半导体学报》2006,27(8):1426-1430
强场诱生并与电场奇异性相关的边界陷阱是影响深亚微米MOS器件可靠性的关键因素之一.文中研究了深亚微米MOS器件的随机电报信号(RTS)的时间特性,提出了一种通过正反向测量器件非饱和区噪声的手段来确定边界陷阱空间分布的新方法.对0.18μm×0.15μm nMOS器件的测量结果表明,利用该方法可以准确计算深亚微米器件氧化层陷阱的二维位置,还为深亚微米器件的可靠性评估提供了一种新的手段.  相似文献   
6.
光电耦合器电流传输比的噪声表征   总被引:5,自引:0,他引:5  
光电耦合器中可俘获载流子的陷阱密度是影响其电流传输比(CTR)的重要因素,并与器件可靠性有密切关系.在器件内部的多种噪声中,1/f噪声可有效地表征器件陷阱密度.本文在研究光电耦合器工作原理以及1/f噪声理论的基础上,建立了光电耦合器的CTR表征模型和1/f噪声模型.在输入电流宽范围变化的条件下,测量了器件的电学噪声和CTR变化,实验结果验证了以上模型的正确性.将CTR模型与噪声模型相结合,得到了CTR与1/f噪声之间的关系.此关系应用于对光电耦合器辐照实验结果的分析,实验结果与理论得到的结论一致.理论与实验结果表明,噪声幅值越大,电流指数越接近于2,则器件的可靠性越差,相同工作条件下CTR的老化衰减量越大,其失效率显著增大.从而证明噪声可表征光电耦合器的CTR并能准确地反映器件的可靠性.  相似文献   
7.
在深入研究SMIC 90nm工艺1.4nm栅厚度nMOS器件RTS噪声时域特性的基础上,提出了该类噪声电子隧穿栅介质的物理起源,并对高栅压下RTS噪声机理作了深入阐述.结合IMEC和TSMC的研究,建立了栅压与RTS噪声时间参数的物理模型,实验结果和模型模拟结果的一致说明了模型的有效性.该研究为边界陷阱动力学和此类器件可靠性提供了新的研究手段.  相似文献   
8.
用于空间系统的电子元器件和电路性能受辐照累积剂量的严重影响。本文针对一种Buck型小功率DC/DC模块电源进行了电离辐照实验,研究结果表明:随着辐照剂量的增加,该类器件输出电压增大,输入电流增大和整体转换效率降低,且加偏辐照DC/DC模块电源更早出现上述参数退化,其低频噪声参量呈现出与电参数相似但幅度更大的退化趋势。进一步的研究结果表明,其内部的功率MOSFET辐照引起的阈值电压漂移是导致该类电源辐照后输出电压增加的主要原因。本文研究结果可为该类器件的抗辐照性能加固提供实验基础。  相似文献   
9.
光电耦合器件作为光电混合器件比一般分立器件结构复杂,其内部噪声的种类较多,在低频时主要表现为1/f噪声,高频时主要表现为散粒噪声。本文在介绍光电耦合器件工作原理的基础上,从理论上分析了1/f噪声产生机理。设计了噪声测量方法,并通过对其测量结果分析,深入研究了噪声和光电耦合器质量与可靠性的关系。  相似文献   
10.
PHM与混合电路的发展机遇   总被引:1,自引:0,他引:1  
为了保证军用和民用系统和设备运行的安全性、经济性和可靠性,国际上发展了故障预报和健全管理(PHM)可靠性保障方法。该方法最早在美国,后又在欧洲、以色列和日本的军事装备及航天系统中采用,对提高可靠性、备战完好率和任务完成率,降低维修保障成本起到巨大作用。美国国防部2005年已经规定优先采购具有PHM功能的产品。当前国际上正在将机械产品PHM的成功经验向电子产品推广,电子PHM已经成为各国竞相研究的热点。电子PHM要求产品内部具有失效或故障原位监测和预报功能,实现这一要求需要给电路模块增加相应功能。PHM给混合电路行业发展提供了新的发展机遇。  相似文献   
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