双波段、双通道对接系统测距误差补偿方法研究

为了完成空间航天对接任务,针对复杂光照条件下的对接孔位置测量问题,设计了一种双波段、双通道测距系统,并对其测距误差补偿方法进行了研究。在介绍了系统测距及误差补偿原理后,根据可见、近红外和双目的测距特点及误差分析结果,利用神经网络对双波段数据进行融合补偿处理,实现弱光照、强光照及无光照条件下的对接孔位置测量。通过实验测试,结果表明在0～10 m的测量范围内,正常光照条件下系统的相对测量误差基本在1%以内,弱光条件下相对测量误差基本在2%以内,相较于单目测距和双目测距分别提升了8%～9%和4%～5%。较好地实现了在不同光照条件下进行较高精度测距的功能。     

基于STM32的简易电路测试仪的设计

以高级语言描述、系统级仿真和综合技术为特征的第三代EDA工具为依托,以实现复杂电路内部故障原因的诊断为目的,提出了基于STM32单片机的简易电路测试仪。测试仪通过AD采集获得计算所需的电压数值,转换为电路参量后判断故障原因。主控板采用STM32F103ZET6,实现整个电路的控制。该测试仪可以对故障电路进行单一故障的诊断。应用了电压跟随器,使电路性能保持稳定。与人工检测相比,该设计具有灵活可控、可靠性高、智能诊断等优点。