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本文介绍了对掺杂Ta、Ba的TiO_2晶界层电容器陶瓷的研究结果。这种陶瓷只需一次烧成就可形成晶界层结构,其介电常数高达10~5,不仅可望成为制作晶界层电容器的理想瓷料,而且有可能用于开发比电容更高的独石型晶界层电容器。 相似文献
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引言已存在几种估算多应力条件下绝缘寿命的推荐性方法和模型。Boulter强调多应力功能性试验对绝缘结构评定是绝对必要的,Paloniemi采用等加速各应力的方法完成了高压电机绝缘多应力耐受试验。Fort等通过试验说明:同时施加热电两种应力便可较准确地估算出电和热老化的综合效应。同时他们还提出采用等加速因子进行综合老化的推荐性方法。Simoni提出在温度和电压作用下绝缘寿命的模型,并且强调指出:电应力和热应力都存在着临界值。Simoni和Fort等给出关于温度和电压寿命面积的三维视图。 相似文献
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本文研究了自然环境条件对短时电气强度的影响及其对选择漏电距离尺寸的意义。测量方法测量绝缘结构的电气强度,一般采用的方法是缓慢升高直流或交流电压直至出现火花放电。对于表面电阻低的漏电距离,可能 相似文献
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