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针对观察单模态图像难以对触头表面进行完整评价的问题,为将所有相关信息从多种模式有效部署到单个图像中,该文提出一种基于非下采样剪切波变换(NSST)的元素分布与形貌信息融合方法。对于扫描电子显微镜&X-射线能谱仪(SEM&EDS)记录的触头表面的元素分布与三维非接触式分析系统记录的表面微观形貌信息,首先在鲸鱼优化算法(WOA)的帮助下,采用基于B样条配准方法;其次应用一种新的加权能量融合规则,实现了具有不同分辨率的多模图像的融合;最后从融合触头图像中圈定出不同元素分布。通过融合结果,该文分析了触头材料转移和微观形貌,研究了触头表面元素分布,为分析触头表面结构变化、分析并定位表面聚集膜以及准确地计算接触电阻奠定了基础。  相似文献   
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