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高活度低能X,γ辐射源发射能谱的测定 总被引：1，自引：1，他引：0
本文介绍了在普通核物理实验室内,对具有复杂能谱的高活度低能X,γ辐射源的发射谱进行测量的一种方法。该方法简便易行,只需使用Si(Li)探测系统即可。 相似文献
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本文以GMX型为例评述了同轴高纯锗探测器在X射线荧光分析中之应用情况,计算了锗的Kα逃逸所致之逃逸峰的强度。给出了能量分辨和逃逸峰的实验数据,并同Si(Li)探测器比较,提出了锗探测器的应用场合以及选择激发源的注意点。 相似文献
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采用软化学方法制备了纳米材料La0.9Sr0.1MnO3和软磁材料γ-Fe2O3,并将两者按不同比例进行复合,而后在不同温度下对其进行烧结,分别用扫描电子显微镜和X射线技术观察了样品的形貌特征和相结构,并用振动样品磁强计对烧结后的样品磁性进行测量.结果表明,经高温烧结后的复合体系,组成物质间没有发生反应,仍以各自相独立存在;复合体系剩磁Br及饱和磁化强度随烧结温度的升高而增加.烧结温度对样品晶粒和尺寸的影响是导致矫顽力Hc的变化的直接原因. 相似文献
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介绍了用放射性同位素Ｘ射线荧光分析法检查了２４Ｋ金饰品质量的简便方法，该方法使用＾２４１Ａｍ和＾２３８Ｐｕ两种辐射源进行两次测量。 相似文献
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