光电子能谱的能量校准和谱图解析方法

一、前言近年来,光电子能谱方法得到迅速发展,已成功地用来研究基础学科和应用技术中提出的各种科学问题。这门技术的基础是精确测定物质中束缚电子的结合能量。一台光电子能谱仪的主要部件有激发光源、电子能量分析器、探测器和记录控制系统(电子计算机)等。从激发源来的单能量光子束照射样品,处于样品中的束缚电子被电离而射出,光电子在能量分析器中被“色散”、聚焦而由探测器接收。探测器输出的脉冲信号经放大、甄别、整形而输入记录控制系统。最后将信号输送到x-y记录仪控制其y轴。对光电子能量的扫描由连续地或步进地控制分析器电压(或电流)     

电子能谱非破坏表面深度分析法

本文介绍电子能谱非破坏表面组成深度分布的分析方法.在电子能谱实验中,当改变电子发射角(即起飞角)θ时,对于小角度θ值,表面检测灵敏度(即表面和本体的信号比)增加,表面层的信号灵敏度随θ的减小而增强.分析电子谱线信号强度随起飞角θ的变化情况,就能获得样品表面组成深度分布的信息。     

筒镜分析器电场终端圆盘

近年来筒镜电子能量分析器广泛应用于俄歇电子能谱仪和光电子能谱仪。这种静电聚焦型分析器是由内外两个同轴圆筒组成的(见图1)。电子发射源放在两圆筒的同心轴线上。在内圆筒上切割一环形狭缝,环平面垂直于圆筒的轴线。如果电子源和内圆筒同电位,电子束将以直线射到分析器的入口狭缝而进入电场区。适当调节内外圆筒的电位差,具有某一单能量的电子将被偏转通过出口狭缝(切割方法同入口狭缝)进入内圆筒并聚焦于轴线上一点。     

粗糙表面小面积成象XPS变角分析法

提出了通过改变X射线入射角对粗糙样品表面作小面积成象X光电子能谱（XPS）分析的方法，以识别、消除或减少表面粗糙引起的遮蔽效应，获得比较真实的样品表面元素分布图。以表面粗糙的Ba－K－Bi－O超导膜为例，演示了变角分析法的应用。讨论了改变X光入射角对被分析面积的影响。     

电子能谱仪能量测量非线性校正

本文研究了谱仪能量定标同能量测量非线性的关系。实验结果发现,适当选择定标能量值,可将仪器能量测量的系统误差移出待测谱峰的能量范围,而获得高准确度的测量值。     

滑杆式真空锁的滑杆密封圈

滑杆式真空闭锁装置(图1)广泛用于各类电子能谱仪及其它各种表面分析仪器中。通常这类仪器要求在真空度高于10-8托的真空下测试样品。使用真空锁,能够做到样品室的高真空不被破坏而迅速方便地更换样品。 滑杆式真空锁的工作原理如下:(参看图1) 当更换样品时,退进样杆(在本文中,进样杆亦即滑杆──以下同),使其端头处于球阀与第二道密封圈之间。(此时两道密封圈仍起作用,样品室真空度不受影响)。 关好球阀,关好差分抽气阀,拉出进样杆。(此时真空锁暴露大气,但因球阀关闭,样品室仍保持高真空。) 换好样品之后,将进样杆插入第一道密封圈,开差分…     

电子飞行时间分析器的新进展

本文评述采用电子飞行时间分析器(TOF)测量电子能谱技术的新进展,重点介绍了几年前出现的磁透镜型TOF分析器。     

Ni的氧化行为及其表面氧化物热稳定性的XPS研究

用XPS研究了金属Ni在不同温度下在空气和水中的氧化行为及生成的表面氧化物的热稳定性。结果表明氧化物除NiO以外还存在Ni_2O_3。在室温下长期暴露空气后Ni表面生成Ni_2O_3更明显。金属Ni在纯水中氧化比空气中慢得多。研究结果还表明:Ni表面氧化物的热稳定性与其生成时的温度密切有关。金属Ni在室温暴露空气生成的NiO在10~(-6)Pa真空中在300℃加热10min即可使其还原成金属Ni。该还原作用是NiO与表面碳氢化合物污染物之间的反应。然而,在200℃以上在空气中加热生成的NiO在相同条件下作真空热处理时不能使其还原成金属。最后本文对不同温度下生成的NiO有不同的热稳定性的原因进行了讨论。     

非晶薄膜的x光电子能谱

近年来,对非晶态合金的原子结构、电子输运、磁性、力学性能等都有很多工作,但对其内在的电子能态、光学特性等研究得尚少.大量的实验结果表明(除个别例外),稀土一Co和稀土Ni系非晶合金的磁有序转变温度都比其对应的晶态合金高;而稀土-Fe系的规律正与之相反.     

国外表面分析仪器的进展

一、引言近年来,人们正在不断探求新的表面分析方法,以解决许多科学上的疑难问题;而科学技术的进一步发展,也为设计制造新型表面分析仪器提供了依据。所谓“表面”,是指固体表面的1—10个原子厚的薄层,也就是几十埃的表面层。物体