紫外/双氧水法处理数码印花废水

采用紫外/双氧水(UV/H_2O_2)法对数码印花废水进行处理,考察了紫外光照射时间、双氧水质量浓度、紫外光波长等工艺参数对废水脱色率和COD去除效果的影响。结果表明:在光照时间为25 min,双氧水质量浓度为150 mg/L时,数码印花废水的脱色率可达95%,COD去除率可达91%;相同的条件下,相对于184 nm紫外灯照射处理,254 nm紫外灯照射处理的脱色率高4.8%,COD去除率低15.4%。     

北洛河上游基流分割适宜性方法及基流特征

退耕还林工程实施以来北洛河上游植被恢复效果显著,为探究该区域基流分割的适宜性方法及植被变化对基流量的影响,采用基流分割中的HYSEP法、数学滤波法、基流指数法3类方法(9种计算表达式)对吴旗水文站1971—2014年的实测径流数据进行了基流分割估算,同时采用Mann-Kendall法和Pettitt法对基流量变化特征进行了分析。结果表明:数字滤波中的F_1法较适宜于北洛河上游地区基流分割;北洛河上游1971—2014年基流指数呈显著增大趋势,突变年为2002年;退耕还林的水土保持效益对涵养水源有很大作用。     

一种交替互补的双状态机自恢复方案

针对深亚微米工艺下瞬态故障引发的软错误可能成为芯片失效的重要原因,提出了一种交替互补的双状态机自恢复结构,该结构将原始状态机拆分为两个子状态机,两个子状态机交替工作,互为补充.在其中一个子状态机发生错误时,回卷到另一个子状态机中的正确状态重新执行,从而有效地针对软错误引起的状态翻转进行防护.为验证本方案,对MCNC91标准电路进行了实验.实验结果显示,在面积开销略为增加的情况下,该方案防护了电路中99.64%的软错误,而电路的延迟比其他同类自恢复方案大幅度降低,在性能改进方面有一定优势.     

流水线电路的容错设计

随着集成电路特征尺寸进入纳米级,高能粒子造成的软错误已对电路的正常工作构成严重威胁.流水线电路具有工作频率高、时序单元数量多的特点,易受软错误影响.本文对时序单元进行容错性能分析,并结合流水线电路的特点,利用新型容错时序单元结构,提出了一种容软错误的流水线电路设计方案.