VMM中功能覆盖率收敛技术

介绍SystemVerilogVMM验证方法学在LCDController验证中的应用,指出它相对于传统Verilog验证方法的1优点,重点研究功能覆盖率的收敛技术,实验比较了多种具体的实现方法。实验结果表明,由于CCT能够收集覆盖信息,形’成闭环负反馈,以控制随机变量的生成,从而在实现快速收敛的目标方面取得了显著的效果。