三点法噪声测试系统

三点法噪声测量系统可直接测定各种固态器件的噪声电流谱密度或电压谱密度。与传统的正弦波法和噪声发生器法比较,大部分系统本身噪声可被分离而扣除,因此可测噪声下限低、精度高。而且不必知道测试系统的系统增益,对它的频率响应和输入阻抗亦无严格要求,无需对输出读数进行修正,也不需要在低频范围难以获得的白噪声发生器。这样可提高噪声测量的准确度。实验证明测量结果的精度优于传统的测量方法,本系统特别适用于低噪声的红外探测器的噪声测量。     

HgCdTe光伏探测器的C—V特性

引言HgCdTe是一种具有独特性能的材料,制备P—n结又常用Hg扩散方法,它与常规的杂质扩散又有不同,加之材料的组分、结构及其固有的十分小的电子有效质量往往引起n型材料的简并等等问题,使成结工艺增加许多复杂因素。为了提高元件水平改进工艺,有必要对P—n结的特性作深入了解。测定P—n结的C—V(电容—电压)特     

变温长波碲镉汞光电导现象研究

变温长波碲镉汞光电导现象研究郑为建，朱惜辰，保红珍（昆明物理研究所昆明６５０２２３）本文报导了ｎ型Ｈｇ＿（０．８）Ｃｄ＿（０．２）Ｔｅ光电导体的变温材料参数与性能参数的对照关系研究；并考察了材料的锭条参数与小芯片霍耳参数的差异，得到了一组光电导的实验...     

SPRITE红外探测器性能的最佳应用

文章介绍了工作波段为8～12.5μm、工作温度为80K,器件尺寸:长度L=700μm、宽度w=62.5μm、厚度d=7μm、读出区面积wl=62.5μm×50μm(名义值)的8条SPRITE红外探测器制造和性能;描述了器件工作电压和探测器性能的关系;讨论了该探测器在热成像系统中最佳使用偏置应为60V/cm,而不是目前的30V/cm;对SPRITE探测器进行了理论分析,指出:在热成像系统中,偏置为60V/cm的SPRITE探测器将获得最佳应用,其性能优于160元背景限线列探测器;还讨论了探测器的热负载和工作电压的关系.