稀土贝氏体钢贝氏体铁素体-奥氏体原子像

钢中加入微量Ｒｅ ,首先可细化奥氏体晶粒 ,细化显微组织 ;其次 ,有净化、变质作用 ,减少有害气体杂质 ,改善钢的组织性能[1] 。文献[2 ,3 ] 对贝氏体铁素体精细结构进行了仔细的观察 ,但多数涉及它的形貌和表面浮凸。关于贝氏体铁素体与奥氏体的取向关系 ,早期Ｓｍｉｔｈ和Ｍｅｈｌ[4] 提出 :钢中上贝氏体铁素体与奥氏体的取向关系符合Ｎ Ｗ关系 ,即 (111) γ ∥ (0 11) α,[110 ]γ∥[10 0 α]。在下贝氏体中则有Ｋ Ｓ关系 ,即 (111) γ ∥(110 ) α,[110 ]γ∥ [111]α。本文研究了有无稀土元素贝氏体钢的强度和韧性以及通过ＴＥＭ和ＨＲ…     

InSb/GaAs半导体界面结构研究

本文通过对ＩｎＳｂ／ＧａＡｓ半导体界面实验高分辨原子像的计算机定量分析得到了界面位错区附近的晶格点畸变位移分布，基于该实验结果中文提出了ＩｎＳｂ／ＧａＡｓ半导体界面的结构互平衡界面结构模型，该界面模型合理地解释了界面位错的起因及ＩｎＳｂ薄膜在ＧａＡｓ基体上升延生长过程中的物理现象，计算机模拟的界面电子衍射谱和高分辨原子像与实验结果的一致性符合验证的所建立的界面模型的正确性。     

高分辨电子显微像的定量分析与应用II.InGaAs/GaAs应变层超晶格的高分辨像定量分析

使用高分辨像定量分析方法和像模拟技术，对外延生长的ＧａＡｓ／ＩｎｘＧａ１－ｘＡｓ应变层超晶格的微观组态进行了详细的分析。用像模拟验证了成像位置与结构投影的对应关系。使用像点定位及畸变测量的分析方法，获得了晶格畸变位移分布图及畸变沿生长方向的分布曲线，扣除由四方畸变导致的点阵膨胀与收缩，得到了仅由Ｉｎ元素分布导致的点阵参数变化曲线。由晶格参数与Ｉｎ元素含量的线性对应关系，获得了超晶格中Ｉｎ元素沿生长方向的分布曲线。     

9Ni钢中马氏体孪晶界面结构研究

本文和电子显微研究了９Ｎｉ钢中马氏体孪晶界面精细结构，结果表明，马氏体孪晶不是平直的孪生面（１１２），而是由一系列以享生面（１１２）为平台的小平面组成的台阶状或凹凸不平的界面。小平面大多沿「１１０」方向形成，沿「１１１」方向较少形成。     

基于双向反馈及HVS模型的误差扩散算法

针对传统误差扩散中的"龟纹"和"伪轮廓"现象,在基于标准误差扩散算法的基础上,提出一种基于双向反馈的误差扩散半色调算法.它不仅在误差扩散后的高频和低频成分中依据HVS模型加入了中间频带,使图像更趋于均匀和柔和,并且根据领域图像灰度特征和HVS特征动态修改误差扩散滤波器系数,尽可能的克服了由于固定系数扩散所产生的方向性纹理缺陷.     

土坝地震附加孔隙水压力计入方法的探讨

根据土坝的土体中孔隙水压力和有效应力与外加压力的相互关系,对地震附加孔隙水压力的产生进行了研究,从抗剪强度指标的试验方法和选取入手,分析了滑动体上作用的地震附加孔隙水压力与地震力分量的关系,提出了对地震附加孔隙水压力计入方法的计算公式。     

9Ni钢中马氏体间规则界面结构的电镜研究

利用ＨＲＥＭ研究了９Ｎｉ钢中相邻马氏体之间的取向关系和晶界结构。观察表明,同一马氏体束内两相邻马氏体片基本满足三种界面关系。马氏体间的界面为半共格的规则界面,由台阶和位错组成。本文利用已知的马氏体相变关系对它们进行了合理的解释。     

供电故障引起家用电器损坏事例的分析

家用电器的正常使用依赖合格的电能质量 ,但由于供电故障导致的电能质量劣化 ,使家用电器损坏的事故时有发生。本文分析了供电故障引起家用电器损坏的典型事例 ,找出了故障原因 ,并提出了提高电能质量 ,防止损坏家用电器事故的改进措施。     

准晶体合金断口扫描电镜观察

在对形成稳定准晶体的Al_(65)Cu_(20)Co_(15)与Al_(65)Cu_(20)Fe_(15)合金铸锭断口进行扫描电镜观察时,可看到显示十边形相与二十面体相点群对称的完整形貌。这种晶粒较小,一般在10μm左右。对于较大晶粒,往往是由多个取向相同的晶粒组成,典型形貌如图1,2所示,尽管不完整,但仍然显示其特征对称性,它们极可能是由一个结晶中心生长起来的特殊形貌技晶体,不像常见技晶体那样可区分出不同级别的技晶轴,对于十边形准晶体(图1),柱体沿十次轴择优生长,在沿垂直十次轴方向生长时整个柱体并不同时生长,先变粗的部位上可以随机长出新的柱体,从而形成由多个取向相同的小柱体组成一个大柱体的形貌,对于二十面体相(图2),十二面体长大到一定程度后沿惯习面生长更快些,惯习面加厚时在其截面