接口电路LN4993失效机理分析

通过对接口电路ＬＮ４９９３几次现场失效及厂家筛选中失效电路的分析，并做了ＥＳＤ试验模拟试验，总结出ＬＮ４９９３几种失效模式，探讨其失效机理，发现这种ＭＮＯＳ电路ＥＳＤ损伤阈值为１５００Ｖ，电路失效多数是过电应力或静电损伤造成。     

混合集成电路应用中的失效分析

通过对两种混合集成电路即温控电路及隔离放大器BB3656BG的失效分析，表明以下观点：（1）对混合集成电路的分析，应通过电路内部测试，测量电路工作状态下各个关键部位的参数乃至动态波形；（2）深入的分析过程有利于对电路透彻的了解及促进同类型电路分析的深度，有利于使分析结论更趋准确。     

钽电容器和独石电容器应用中的失效分析

通过对钽电容器和多层独石瓷介电容器的几个失效分析实例,得出以下结论：（1）钽电容器使用中常见的失效现象是焊接不当,导致内部焊锡流动引起短路失效,应引起起装机工作人员高度重视;（2）通过分立元器件的解剖方法结合详细的测试分析,找出独石瓷介电容器内部的质量问题在于介质中的缺陷,导致电极材料局部突起,以至发生离子迁移或短路失效。