排序方式: 共有6条查询结果,搜索用时 0 毫秒
1
1.
红外系统设计中探测器1/f噪声对D值影响的计算 总被引:1,自引:0,他引:1
在红外系统带宽较小、红外探测器1/f噪声拐点频率较高的情况下,目前所采用的窄带噪声测量的D值不能准确反映系统使用时红外探测器的真实性能。本文提出一种在1/f噪声成分大的条件下对窄带噪声测量的D值进行修正的计算方法,并就减小1/f噪声对D值的影响作了简要的讨论。 相似文献
2.
光机扫描红外成象系统的串扫、并扫体制比较苏启顺航天工业总公司二院二十五所扫描体制对光机扫描型红外成象系统的性能和品质起着重要的作用。本文从1/f噪声,冷屏效果、多元探测器非均匀性对串扫、并扫两种体制的系统灵敏度影响作了分析、计算;从系统通带和探测器的... 相似文献
3.
在红外系统带宽较小、红外探测器1/f噪声拐点频率较高的情况下,目前所采用的窄带噪声测量的D ̄*值不能准确反映系统使用时红外探测器的真实性能。本文提出一种在1/f噪声成分大的条件下对窄带噪声测量的D ̄*值进行修正的计算方法,并就减小1/f噪声对D ̄*值的影响作了简要的讨论。 相似文献
4.
红外成像导引头的发展与展望苏启顺(航天工业总公司25所北京100854)本文扼要介绍了红外成像导引头的发展过程,介绍了70年代中期开始的主要针对坦克、飞机的红外成像导引头的发展;从第一代采用光机扫描型红外传感器的导引头到第二代采用电子扫描的焦平面红外... 相似文献
5.
光机扫描红外成像系统的串扫、并扫体制比较 总被引:1,自引:0,他引:1
扫描体制对光机扫描型红外成像系统的性能和品质起着重要的作用。本文从l/f噪声、冷屏效果。多元探测器非均匀性对串扫、并扫两种体制的系统灵敏度影响作了分析、计算;从系统通带和探测器的缺陷对两种体制系统的成像质量的影响作了定性的分析;还对两种体制的相关技术、成本和可生产性等方面作了扼要的比较。从两种体制的分析、计算、比较中可以看出:串扫体制在系统灵敏度、成像质量以及相关技术、成本和可生产性等方面优于并扫系统。因此在设计光机扫描型红外成像系统时,应把扫描体制作为重要的因素加以考虑。作为产品的规划则更应重视扫描体制的选择。 相似文献
6.
1