基于V93000的现场可编程门阵列测试时间优化方法

对于现场可编程门阵列FPGA,测试配置时间远大于加测试向量的时间,为实现FPGA快速配置测试,本文提出了一种FPGA测试时间优化方法:采用Advantest公司V93000自动测试设备,通过在一个周期内加载4行配置向量对电路配置比特流的测试时间进行优化(即4X配置方式),并结合FPGA多帧写位流压缩方法对电路测试配置的编程加载时间进行优化;以Xilinx公司Virtex-7系列FPGA-XC7VX485T为例进行了测试验证,测试数据表明:采用V93000SoC测试系统的4X配置方式,FPGA的单次配置时间减少了74.1%;为了满足量产测试对于测试时间的要求,进一步提出V93000的4X配置方式与FPGA的位流压缩相结合的方法,FPGA的单次配置时间由1.047s减少到47.834ms,测试时间压缩了95.5%.该方法有效减少了FPGA单次测试时间,提高了在系统配置速度.     

基于TMS320F2812的异步电机变频调速系统设计与应用

针对空压机中大功率异步电机费电问题,为实现节能需对电机变频调速.文中介绍了用于电机控制的芯片的最新发展状况,讨论了基于TMS320F2812的异步电机变频调速系统在空压机控制中的硬件设计,介绍了各部分硬件电路的实现.通过电压空间矢量方法实现了对异步电机的变频控制.实践表明,该系统有较高的灵活性和稳定性,适合于复杂的无传感器矢量控制和直接转矩控制算法的实现.     

基于DSP的异步电机变频调速系统设计与应用

介绍了用于电机控制的芯片最新发展状况。讨论了基于TMS320F2812的异步电机变频调速系统在空压机控制中的硬件设计。详细介绍了各部分硬件电路的实现。通过实践表明,该系统有较高的灵活性和稳定性,适合于复杂的无传感器矢量控制和直接转矩控制算法的实现。     

基于缺陷检测的多芯片塑封光耦器件开封方法

塑封光耦器件主要用于电源隔离、信号转换、脉冲放大等领域.基于缺陷检测的需求,保持芯片、键合丝、基板等部位的原始状态是开封技术的重要指标.针对多芯片塑封光耦器件缺陷检测难的问题,为了避免开封对关键缺陷点的损伤,提出了一种多芯片塑封光耦器件的开封方法.利用X射线对器件进行内部结构分析和缺陷定位,通过机械预处理、激光烧蚀、激...     

树立国际锁具品牌 打造三环百年基业

烟台三环锁业集团有限公司始建于1930年,是我国成立最早的制锁企业。历经八十多年的发展与积淀,“三环”由默默无闻的小五金作坊,发展成为国内领军、世界驰名的现代化大型锁业集团,跻身于中国锁具行业最具影响力品牌,产品畅销世界180多个国家和地区。“三环”产品以其可靠的质量和良好的声誉,在国内外市场上赢得了良好的口碑,曾荣获...     

基于ATE的FPGA测试

随着集成电路技术的飞速发展,FPGA的应用越来越广泛,其测试技术也得到了广泛重视和研究。文章简要介绍了FPGA的发展及其主要组成部分,提出了一种用ATE对FPGA进行测试的方法和具体测试流程。以一段Xilinx XC3042的真实配置数据为例详细描述了Intel HEX文件格式,以及将其转换成二进制配置码的方法,并介绍了FPGA的配置码格式和配置数据长度的计算方法。然后,以外设配置模式为例,通过XC3042的配置电路原理图和配置时序详细描述了FPGA的配置原理;最后给出了采用ATE（Automatic Test Equipment）-J750对FPGA的配置与测试过程,为FPGA的通用测试提供了一种切实可行的有效方法。     

基于测试系统的FPGA测试方法研究

FPGA已经成为当今数字化系统硬件设计的核心,全球90%以上的嵌入式系统设计工程师正在使用FPGA进行着各种各样的设计。FPGA的快速发展,为测试厂商带来了新的机遇和挑战,针对FPGA的各种创新测试技术和解决方案不断问世。文章介绍FPGA配置方法,着重介绍了利用测试系统(ATE)直接配置和基于CPLD+FLASH的FPGA配置方法,介绍了FPGA配置模式选择和配置代码生成方法,并以Virtex-II FPGA为例,详细讲述了FPGA配置与测试过程。     

基于DSP的异步电机变频调速系统设计与应用

介绍了用于电机控制的芯片最新发展状况。讨论了基于TMS320F2812的异步电机变频调速系统在空压机控制中的硬件设计。详细介绍了各部分硬件电路的实现。通过实践表明,该系统有较高的灵活性和稳定性,适合于复杂的无传感器矢量控制和直接转矩控制算法的实现。     

基于TMS320F2812的异步电机变频调速系统设计与应用

针对空压机中大功率异步电机费电问题,为实现节能需对电机变频凋速。文中介绍了用于电机控制的芯片的最新发展状况,讨论了基于TMS320F2812的异步电机变频调速系统在空压机控制中的硬件设计,介绍了各部分硬件电路的实现。通过电压空间矢量方法实现了对异步电机的变频控制。实践表明,该系统有较高的灵活性和稳定性,适合于复杂的无传感器矢量控制和直接转矩控制算法的实现。     

基于新型BIST的LUT测试方法研究

针对FPGA内部的LUT资源覆盖测试,提出一种新型BIST的测试方法。通过改进的LFSR实现了全地址的伪随机向量输入,利用构造的黄金模块电路与被测模块进行输出比较,实现对被测模块功能的快速测试,并在Vivado 2018.3中完成了仿真测试。通过ATE测试平台,加载设计的BIST测试向量,验证结果与仿真完全一致,仅2次配置即可实现LUT的100%覆盖率测试。此外,还构建了LUT故障注入模拟电路,人为控制被测模块的输入故障,通过新型BIST的测试方法有效诊断出被测模块功能异常,实现了准确识别。以上结果表明,该方法不仅降低了测试配置次数,而且能够准确识别LUT功能故障,适用于大规模量产测试。