高速率光信号消光比测量的误差分析

介绍了基于示波器眼图的对光纤通信系统中高速率光信号消光比的测量方法,对测量过程中的主要误差来源进行了详细分析,并给出了减小这些误差项对测量结果影响的解决办法。     

保偏光纤拍长与折射率测量技术研究

拍长和折射率是表征保偏光纤产品性能的重要指标,随着保偏光纤在光纤通信和光纤传感等领域的广泛应用,对拍长和折射率参数的准确测量十分重要.基于白光干涉技术研制了保偏光纤拍长测量装置,通过测量保偏光纤上两个应力点之间的几何长度和对应耦合点之间的光学长度,实现了拍长的高精度测量,重复性优于4μm.基于数字全息显微层析成像技术,...     

红外焦平面阵列相对光谱响应测试系统

由电子41所研制的红外焦平面阵列相对光谱响应测试系统采用单光路标准替代法进行测量，系统组成灵活并可扩展，配合自行研制的图形发生器，偏置，时钟驱动、数据采集子系统，可以满足不同被测器件的需要。     

高精度光纤色散测试技术

主要介绍了一套高精度光纤色散测试系统,系统采用频域相移法测量光纤的零色散波长以减小系统误差的影响,其零色散波长测量不确定度达到了0．11nm(k=2)。     

基于质心法的高分辨率高探测效率N光子纠缠N00N态超分辨量子成像

基于N光子纠缠量子成像的分辨率优势,设计了一种通用的多光子纠缠N00N态的超分辨量子成像系统,理论上成像分辨率可实现■倍的增加,成像系统的分辨率得到大幅提升。针对N00N态探测效率过低的问题,利用光学质心测量方法,保留所有探测情况,在不需要所有光子到达空间同一点的情况下,通过光子计数和适当的后处理,实现了任意数量光子下成像分辨率的提高。相较于N光子吸收方案,该方法的理论效率增加了D^N-1(假设有D个像素)。所提方案可以产生具有高保真度和高稳定性(数天内保持稳定)的N00N态,有利于拓展N00N态的应用范围。所设计的系统在超分辨量子成像领域中具有较好的应用价值。     

新型单模光纤模场直径测试系统

介绍了一种新型的单模光纤模场直径测试系统，它采用国际推荐的基准测试方法－远场扫描法，具有测量精度高、速度快、抗干扰能力强和操作简单的特点，既可用于实验室中，也适合在工厂环境下使用，能够替代同类进口产品。