存储器的测试技术

集成电路工艺的改进使存储器的测试面临着更大的挑战。本文从存储器的故障模型入手着重描述了单端口存储器,字存储器,多端口存储器及存储器组的测试。测试算法和测试策略要在测试时间,故障覆盖率,面积开支之间进行折衷。     

硅酸盐型LED荧光粉的表面处理及其性能

采用硅溶胶对Sr2–xBaxSiO4∶Eu2+LED荧光粉进行表面处理,以改善其稳定性、在树脂中的分散性及封装应用的老化效果。考察了硅溶胶用量、处理温度和时间对荧光粉性能影响,分析了表面处理对荧光粉的晶体形貌和发光性能的影响,并对其应用老化性能进行了研究。结果表明,表面处理使硅酸盐荧光粉的初始发光强度提高约2%,可靠性也有所提高,可使封装后的LED的光衰减少6%。     

SUPREM-Ⅲ进行集成电路氧化—扩散工艺模拟

随着集成电路工艺的不断发展,工艺模拟软件功能也在不断的改善,本文以氧化扩散工艺为例,并在计算机上采用SUPREM-Ⅲ完成氧化扩散初始条件的编辑以及工艺模拟,并对模拟结果进行分析比较。从而对氧化、扩散工艺操作过程有直观的了解,避免了复杂的工程计算。     

一种简化的动态独立元分析方法

在动态过程中,传统主元分析（PCA）法无法利用过程变量的自相关性对过程进行准确地分析,而且过程数据不一定满足高斯分布从而导致误报和漏报,这个问题可以采用动态独立元分析法（DICA）来解决.本文根据动态过程时间滞后的大小提出了一种简化的DICA方法,并用相应的二阶动态模型进行了仿真验证,结果表明与DICA相比,该方法同样有效且简便易行.     

SUPREM-Ⅲ进行集成电路氧化-扩散工艺模拟

随着集成电路工艺的不断发展，工艺模拟软件功能也在不断的改善，本文以氧化扩散工艺为例，并在计算机上采用SUPREM-Ⅲ完成氧化扩散初始条件的编辑以及工艺模拟，并对模拟结果进行分析比较。从而对氧化、扩散工艺操作过程有直观的了解，避免了复杂的工程计算。     

高光谱遥感大气辐射校正技术的研究

为满足高光谱遥感图像定量化解译的需求,针对现有大气校正方法面临的大气参数不同步问题,对基于大气参数空间同步获取的大气辐射校正技术进行了研究。首先总结了利用卫星搭载专用大气辐射校正载荷,同步提供大气校正参数与地表反射特性的方法,从根本上解决辐射传输模型中的大气参数难以同步获取的问题。其次结合国外在轨运行的高光谱遥感卫星的调研结果,在大气校正载荷的设计—尤其是谱段选择和优化方面对载荷系统的方案特点和技术指标进行了归纳。并选取EO-1 Hyperion高光谱遥感图像进行了大气校正,从校正前后图像的视觉效果、光谱特性、典型地物的分类识别效果三方面分析了大气校正对高光谱遥感定量化应用性能的提升。最后对大气辐射校正技术的发展前景进行展望。     

SUPREM-Ⅲ进行集成电路氧化一扩散工艺模拟

随着集成电路工艺的不断发展,工艺模拟软件功能也在不断的改善,本文以氧化扩散工艺为例,并在计算机上采用SUPREM-Ⅲ完成氧化扩散初始条件的编辑以及工艺模拟.并对模拟结果进行分析比较.从而对氧化、扩散工艺操作过程有直观的了解,避免了复杂的工程计算.