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1.
用Ar气制备C—60的研究   总被引:4,自引:0,他引:4  
在kratschmer碳弧法中用Ar代替He制出C-60。研究了Ar压力为1.33-90.64kPa时产的C-60碳灰,功率消耗,提取率等的关系,并与用He制C-60作了比较。  相似文献   
2.
用直流碳弧法制备出碳包Ni金属纳米晶,在石墨阳极复合棒中掺入不同组份的Ni,研究其对碳包Ni纳米,富勒烯等碳微团特性的影响。  相似文献   
3.
在单晶硅薄片上用光刻方法制作了铝金属网栅,并用在亚毫米波F-P干涉仪上。适宜用作亚毫米波波长的测量和频谱特性的研究。  相似文献   
4.
用直流碳弧法制备出碳包Ni金属纳米晶.在石墨阳极复合棒中掺入不同组份的Ni,研究其对碳包Ni纳米晶,富勒烯等碳微团特性的影响结果表明:碳包Ni纳米晶含Ni和石墨,不含碳化物和氧化物;纳米品数量随Ni增加而增加.而纳米晶的粒径出现极值;Ni催化碳微团石墨化并使C60/70产率下降;碳包Ni金属纳米晶单位质量的饱和磁化强度随Ni的增加而增加  相似文献   
5.
普通的硅光电管,对红光和近红外光的响应度和稳定性方面显示了极大的优越性。但是它对于紫光和近紫外光的响应却很微弱。分析其原因可归结为:首先,硅的吸收系数大(4000(?)时约10~5cm~(-1)),短波光大部分在硅表面而不是在PN结区被吸收;其次,PN结深度太大(一般约2000(?)以上);此外,表面复合和扩散杂质表面浓度大,使扩散层缺陷多造成光生载流子复合损失大;最后,硅的表面反射系数大(4000(?)时约50%)。为了使得硅光电探测器在绿、兰、紫和近紫外区有较好的响应度,则要求这种结型光电器件的结做得非常浅,扩散杂质的表面浓度尽量低,使所谓“死区”尽可能薄。而常规的扩散工艺是难以实现的。本文报导采用激光诱导扩散的新技术研制短  相似文献   
6.
氦气压力对碳纳米管形成的影响   总被引:1,自引:1,他引:0  
用热重分析和差热分析研究地流碳弧法中氦气压力对阴极沉积物-含纳米管碳灰中碳纳米管形成的影响,并与C60/70和石墨的DTA曲线比较,结果表明:在研究范围内,氦压越高,碳纳米管与碳纳米粒子的比率越高。可用控制氦气压力调整碳纳米管与碳纳米粒子的比例。  相似文献   
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