AMSAA模型的增长分析

AMSAA模型是杜安模型的改进型.杜安模型没有考虑数据的散布特性,1974年L.H.Crow指正,在区间(o,t]内系统的故障数N (t)服从的均值函数即数学期望为;E [N(t)]=at~b式中.N(t)为观察到的累积故障数,a为尺度参数,b为增长形状参数.在可靠性增长试验中,通过增长分析可以得到增长参数a和b的估计值.从而及时掌握产品当前的可靠性水平和预测未来的可靠性.并监控产品可靠性的增长速率.可靠性增长分析的主要内容有增长趋势分析、增长参数估计以及拟合优度检验等.     

电子元器件的可靠性增长方式

电子元器件通常都是批量生产的,所以它们的增长过程一般是分阶段或按试验序列而逐步进行的.对它们进行增长分析时,通常应该采用离散型的增长模型。工程实践上,电子元器件的可靠性增长,可以采取试验比较法、消除失效模法以及阶段序列增长法等各种方式.试验比较法需要通过前后两次试验来分析产品的增长效果。第一次试验的目的,是要掌握产品的可靠性现状,摸清产品的存在问题;第二次试验的目的,则是要验证纠正措施的有效性,并检验其增长效果。     

军用电真空器件可靠性的模糊评价方法（续）

3 行波管的增益变化因子 及功率变化因子 行波管的基本失效率与其工作频率和输出功率有极为密切的关系。为考察行波管的增益变化和功率变化特性,可以在产品提交使用之前,进行一定时间的试验观测。设产品的标称增益和标称功率分别为S_0及P_0,如果对产品进行了1000h的参数性能变化试验,则可测得其增益变化值S_i及功率变化值P_i。若该值随时间变化的特性越接近标称值越好,则可用下列方式来确定模糊矩阵的元素r_(ij)。     

理想增长曲线的绘制

绘制理想增长曲线的主要问题,是要确定起始点、目标点以及增长率,即要确定(t_ι,M_ι)、(T_F,M_F)以及增长率m。 1 增长起点的确定 增长起点包括有起始可靠性水平M_ι和起始时间t_ι。 1)起始MTBF的确定     

可靠性增长管理策略

可靠性增长管理策略,是指在可靠增长过程中如何处理所出现的有关问题。它包括: a.故障纠正策略,即确定试验中出现的各种故障,哪些要采取措施进行纠正,哪些不作纠正; b.确定增长率的大小以及起始点的高低; C.确定什么时间将改进措施纳入产品。     

电子元器件的有关可靠性试验

可靠性试验是为了评价和分析产品的可靠性特征而进行的试验。试验包括有环境、筛选、交收验收、测定、鉴定验证、认证以及寿命与加速寿命试验等等。 可靠性增长试验是为暴露产品的薄弱环节,并证明改进措施能防止薄弱环节再现而进行的系列试验。从广义上来讲,凡属以改进产品的可靠性为目的而进行的试验都可以作为可靠性增长试验的一种手段,但要注意的是可靠性增长试验是一个有计划地激发故障、分析故障和改进设计并证明改进有效的一个过程。 可靠性增长试验同一般可靠性试验的区     

可靠性增长规划与计划

可靠性增长规划是可靠性增长管理的依据,也是研制规划的重要组成部分。一般在确定可靠性指标的同时应该形成可靠增长增长规划,以便与其它研制活动进行技术上和资源等方面的协调。 编制可靠性增长规划时,除了要根据起点点、目标点以及增长率来绘制理想增长曲线之外,还必须考虑如下几个问题; a.各工程阶段的可靠性阶段目标与进度表; b.各阶段的试验与改造的工作量及相应的人力物力安排; c.各阶段中有关的可靠性活动安排、阶段评审或鉴定; d.各项有关的组织措施。 在工程实践中,通常将产品的研制分成     

电子元器件的失效分析

对产品进行失效分析的主要内容,是要收集各种失效样品、鉴别失效模式、确定失效机理并提出纠正措施,以促使产品的可靠性增长。产品的失效模式是指产品失效的具体形式、形态和现象等等,产品的失效机理是指产品发生失效的物理化学根源。对电子元器件进行失效分析的基本程序如图40.1所示。目前我国各类元器件失效模式的基本状况如表40.1所示。