采用自动双探边器降低芯片漏测率

半导体芯片的检测是芯片生产企业生产过程中的重要环节，芯片在检测过程中，由于圆形硅片的结构特点而造成的漏测又是困扰芯片生产企业不可小视的实际问题。本文介绍了利用双探边器解决由于硅圆片结构所造成的漏测的有效办法及具体操作方法。     

200A峰值电流表的制作与应用

常用的交直流电流表只能测量直流电流和交流电流有效值。本文介绍了利用新型器件霍尔电流传感器制作的200A峰值电流表的工作原理、电性能和调试方法。按文中电路原理图制作的峰值电流表既可以单独测量使用，也可以作为测流组件安装在其他检测设备中配套使用。