基于小波滤波的水体重金属分析仪设计

为实现水体重金属污染的快速检测,设计了一种X射线荧光分析仪,采用ARM S3C6410作为分析仪的控制与数据处理核心,Si-PIN半导体X射线探测器作为检测传感器,使用WXCAT-43TG6#001触摸屏控制分析仪工作和显示测量结果,也可通过USB接口与PC机进行数据通信,可现场快速测试水体中Pb、Hg、Cd、Cr、As、Cu、Ni等重金属的含量.应用结果表明,分析仪的操作简单、工作可靠,实现了水体中重金属种类及含量的快速检测.     

负载均衡控制器UC3907

ＵＣ３９０７是Ｕｎｉｔｒｏｄｅ公司生产的负载均衡控制电路，它能有效控制每个电源模块的输出电流，使之均摊总负载电流，为电源模块的并联使用提供了保证。文章介绍了该电路的特性、工作原理及实用电路。     

基于DSP的智能无功补偿装置设计

 为了减小10kV配电网投切无功补偿电容器组时所产生的开关暂态过电压对电力设备造成的危害,提出了一种基于DSP的采用同步技术投切无功补偿电容器组的控制装置。该装置以数字信号处理器（DSP）TMS320LF2812为核心,对交流电压、电流同步采样,实时提取三相电压、电流的零点,控制同步真空断路器实现补偿电容器组在电压过零时投入,在电流过零时切除,有效减小投切电容器组时所引起的涌流和过电压,弥补了传统无功补偿装置存在的不足。     

基于FPGA和ARM的位移测量仪设计

光栅尺作为位移传感元件被广泛应用在光学精密测量机器和高精度的数控机床上.介绍一种采用FPGA的光栅尺位移测量仪的设计方法,通过FPGA对2个光栅传感器输出的信号分别进行细分辨向和计数,再使用ARM LPC2132对计数信号进行处理,能可靠对x-y工作台在x和y方向上的位移分别进行测量.该仪器的分辨率为0.5 μm,精度可优于±1μm.此外,所研制的位移测量仪工作可靠,结构简单,易于调试和扩展.     

基于动态曝光的激光光刻机的设计

为了提高激光全息防伪技术,开发了以工业控制计算机为上位机、DSP TMS320F2812为下位机的高速光刻机。该光刻机采用动态曝光的工作方式,实现了高速高精度定位。解决了传统光刻机需要在静止的状态下完成曝光的工作模式,使光刻速度提高了20~30倍,提高了激光防伪商标母板制作的技术水平。     

针对土壤重金属污染的X荧光测试仪的设计

为了快速检测土壤的重金属污染程度,设计了一种X荧光测试仪。该测试仪采用Si-PIN半导体X射线探测器作为检测传感器、ARM S3C2440A作为控制与数据处理核心,并使用WXCAT35-TG3#001F显示/触摸屏控制测试仪显示测量结果。测试仪可通过RS-232接口与PC机进行数据通信,也可现场快速分析测试土壤中重金属As、Cr、Zn、Cu、Pb、Ni等的含量。实际应用结果表明,测试仪工作可靠、运行稳定,实现了土壤重金属污染的快速检测。     

无油墨印刷包装材料激光制版机的设计

为了生产大尺寸的激光防伪包装材料,开发了高速激光制版机。该设备动态曝光的工作方式,克服了影响工作台定位精度的多种因素。以工控机为上位机,以运动控制器PMAC 和单片机STC12C5410AD 为下位机,结合直线电机技术,实现了高速高精度定位。工作速度提高了10 倍以上,有效提高了全息母板制作的效率。     

一种简单实用的正交解码脉冲接口电路

文章介绍了一种简单实用的正交解码脉冲接口电路。它通过反相器、单稳态和与门电路实现对正交脉冲信号进行解码,由单片机对脉冲信号进行计数处理,能动态地测量位移和旋转角度。本设计结构简单,成本低,通用性强,与PC机和其它微处理器通信方便。     

漏电保护器智能化测试仪的设计

为了提高测量漏电保护器漏电动作特性参数的准确性,减少测量时间,实现漏电保护器的在线和非在线检测,设计了一种手持式漏电保护器测试仪。该测试仪采用ATmega32作为控制与数据处理核心,能自动对漏电保护器特性参数进行测试,既能检测非在线运行的漏电保护器,又能检测在线运行的漏电保护器,为漏电保护器的性能研究、质量检验及漏电保护技术的应用提供了有效手段。     

高速激光点阵光刻机的设计

为了制作大尺寸激光防伪商标,开发了高速激光点阵光刻机。该光刻机以工控机为上位机,ARM LPC2138和单片机STC12C5401AD为下位机,采用直线电机直接驱动X-Y工作台,实现了高速高精度定位。