一种检测平晶和透镜面形的方法

介绍了数字式激光平面干涉仪的测量优势,阐述了利用其进行平面和球面面形的测量方法,弥补了传统平面等厚干涉仪只能测量平面平晶的不足。同时分析了影响测量结果的几个因素,并利用ZEMAX软件模拟平晶位置,观察干涉条纹。     

影响投影仪放大倍数正确性的主要因素

0引言投影仪是一种常见的光学测量仪器,在精密测量中,常在投影仪影屏上用放大图纸对照各种样板和零件的几何轮廓,通过读数装置测量相对位置间的尺寸。这种投影放大的测量方式比较直观。JJF1093-2002《投影仪校准规范》中,有一项校准内容是投影仪放大倍数的正确性。其中对于放大倍数的要求如表1所示。投影仪放大倍数的正确性与     

一种基于像方指向的望远镜关键技术分析

针对空间遥感望远镜对大视场和高分辨率的需求,本文提出了像方指向技术.首先设计了透射式大尺寸像面光学系统;接着,根据像面尺寸的要求,提出了一种基于像方指向的探测器机械交错拼接法;然后,分析了像方指向系统的工作原理及关键技术.最后,进行了实验成像并分析了系统的误差.实验结果表明:像方指向系统的指向精度需优于1.6 mrad...     

成渝城市群土地利用效益与新型城镇化水平协调发展研究

建立土地利用效益与新型城镇化协调发展综合评价指标体系,采用改进熵权法、变异系数法和相对熵对评价指标进行组合赋权,并结合耦合协调度模型对成渝城市群2007～2016年土地利用效益与新型城镇化水平综合指数、耦合度、耦合协调度进行探究,结果表明:(1)土地利用效益与新型城镇化综合指数均呈现上升态势,新型城镇化水平上升速度更快,空间上呈现"成都-重庆"双中心格局。(2)整体处于颉颃阶段,且以中高度耦合为主;耦合协调度整体呈上升态势,实现了从轻度失调向濒临失调的过渡。成渝城市群应加强推进供给侧改革,优化产业布局,提高土地利用效率,实现两者高水平协调发展。     

同轴两反光学系统杂散光分析及内遮光罩优化设计

针对某同轴两反光学系统的空间布局特点设计了内遮光罩,并对内遮光罩不同的高度和直径参数进行了系统的杂散光分析,绘制了系统东西方向和南北方向的点源透射率(PST)曲线并得到系统像面处的辐照度,从而为内遮光罩的杂散光抑制能力提供了量化的对比结果,便于内遮光罩进行优化设计。通过杂散光分析,并对内遮光罩的结构强度等参数进行有限元分析(FEA)校核,确定了该口径为320mm的同轴两反光学系统的内遮光罩高度为100mm,直径为44.8mm,使得该遮光罩结构在满足空间遥感器力学性能的要求下达到杂散光抑制的最佳效果,实现了杂散光分析及基于结构FEA的优化设计。