MOS器件的ESD失效

静电放电(ESD)对半导体器件,尤其是金属氧化物半导体(MOS)器件的影响日趋凸显,而相关的研究也是备受关注.综述了静电放电机理和3种常用的放电模型,遭受ESD应力后的MOS器件失效机理,MOS器件的两种失效模式;总结了ESD潜在性失效灵敏表征参量及检测方法;并提出了相应的静电防护措施.     

集成电路测试平台需求趋势分析

随着半导体科技的不断发展和进步,集成电路的集成度越来越高,对测试平台的需求也在不断变化。本文以十二五计划为时间节点,回顾之前国内测试设备选型历程,并分析了测试平台的发展趋势,对测试平台的选型给出了建议。     

基于A567进行运算放大器DC参数测试技术研究

运算放大器作为一种通用器件，其测试技术比较成熟。为快速解决在测试过程中出现的问题，需对测试系统内部参数测试实现方式做深入了解。本文将以teradyne公司的混合信号测试系统A567为例，对运算放大器的测试理论及技术进行了分析，并提出了一种新的测试实现方式。     

导弹安保机构测试系统的设计与实现

针对某型空空导弹安全和解除保险机构,利用计算机及高新技术,实现了安保机构的高精度、高准确性和高效率的测试.较详细地介绍了安全和解除保险机构自动测试系统的硬件设计、软件设计及抗干扰措施.实践表明,该系统具有较高的测试精度及智能化程度,并具有良好的通用性.     

基于IEEE1232的故障树诊断模型研究

IEEE1232对广义测试环境下的诊断知识进行了标准化描述,从而保证了诊断知识和数据的可移植和互操作;故障树分析作为被广泛应用的故障诊断方法,却很少有标准像IEEE1232一样对其具体应用进行详细规范,因此分析建立基于该标准的故障树诊断模型,是将其运用到实际故障树分析中的重中之重;首先介绍了IEEE1232标准及其模型构成,然后分析了其中一些公用模型元素的具体含义和用法;对于标准中关于故障树的描述,深入研究了其构成要素及有效的使用方法,并建立了基于这些要素的故障树诊断模型;最后给出了由EXPRESS语言描述的可交换故障树模型文件例子。