THE STRUCTURE ANALYSIS OF ELECTRODEPOSITED CdSe_xTe_(1-x) THIN FILM MATERIAL

电淀积工艺制备CdSe_xTe_(1-x)薄膜,经x 射线衍射分析,肯定薄膜是以CdSe 为基的三元单相固溶体,其结构并非严格的立方闪锌矿结构,应属正交晶系;随着退火温度升高正交性不断加强,高温700℃退火除正交性加剧外,还出现许多新谱线,它与六角闪锌矿结构不符而与正交结构的超点阵结构谱线吻合;这种情况的出现可能与Te 和Se 原子有规则占据四面体间隙位置引起长程有序化有关。     

电淀积CdSe_xTe_(1-x)薄膜材料的结构分析

电淀积工艺制备 CdSe_xTe_(1-x)薄膜,经 x 射线衍射分析,肯定薄膜是以 CdSe 为基的三元单相固溶体,其结构并非严格的立方闪锌矿结构,应属正交晶系;随着退火温度升高正交性不断加强,高温700℃退火除正交性加剧外,还出现许多新谱线,它与六角闪锌矿结构不符而与正交结构的超点阵结构谱线吻合;这种情况的出现可能与 Te 和 Se 原子有规则占据四面体间隙位置引起长程有序化有关。