直读光度法测定钼铁中的硅

试样经草酸、双氧水分解后，以盐酸羟胺破坏掉多余双氧水。以标准样品作参比，在硫酸－柠檬酸介质中，用钼酸铵显色，抗坏血酸还原，生成稳定的硅钼蓝。此方法可测定１．０％以下的硅，具有快速、准确、灵敏度高等优点。     

全自动制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅

采用全自动制样,建立了X射线荧光光谱法(XRF)快速测定硅铁中硅的方法。通过对比X-ray专用助磨剂、进口助磨剂、微晶纤维素、硬脂酸等几种助磨剂在制作硅铁压片时的使用效果,确定使用X-ray专用助磨剂作为硅铁压片添加剂,样品与助磨剂的添加比例为9:1(质量比);全自动制样机制备硅铁压片时,样品初始粒度要求过160目筛网(孔径96 μm)、研磨时间为130 s、压力为35 t、保压时间为20 s。用上述方法可以得到结构均匀致密、外表平整光滑的硅铁压片。采用不同时期的多个生产样合并为一个管理样,与购买的硅铁标样配制校准曲线标样,校准曲线硅含量范围能够满足测定要求,并有效消除矿物效应对测定的影响。采用实验方法测定硅铁中硅,分析结果同SN/T 1014.1—2001的氟硅酸钾滴定法相吻合,相对标准偏差(RSD,n=11)小于0.2%。     

氢化物发生-原子荧光法测定焙烧钼精矿及钼铁中的锡

建立了一套氢化物发生 -原子荧光法测定焙烧钼精矿及钼铁中锡的方法 ,研究了酸度、NaBH4浓度、载气流速等条件对检出限的影响 ,在优化工作条件下 ,对锡的检出限为 0 .2 μg/L ,试验效果好     

氟硅酸钾容量法测定硅铁中硅的方法研究与改进

本文以降低氟硅酸钾容量法分析误差、提高分析方法准确度为目的,从方法原理和操作流程入手,对影响分析结果的关键因素进行实验研究和讨论。通过研究讨论结果对分析方法进行改进、完善,最终使分析方法准确度和精密度大为改善,单次分析误差范围由≤1.57%降低到≤0.97%。本研究结论可操作性强,在对分析结果准确度要求较高的领域中具有很好的参考和应用价值。     

熔片-X射线荧光光谱法测定焙烧钼精矿中钼、铅和铜

建立了熔片-X射线荧光光谱法测定焙烧钼精矿中的钼、铅和铜的分析方法。试验结果表明本方法对焙烧钼精矿中钼、铅和铜的测定结果与化学分析法相吻合、相对标准偏差小,方法准确可靠。     

原子荧光法测定焙烧钼精矿及钼铁中的锑

本文通过建立原子荧光法测定焙烧钼精矿及钼铁中锑的方法,对影响锑荧光强度的介质酸度、硼氢化钾浓度、还原剂等分析条件进行了试验,确定其仪器的检测应用条件,在本行业具有推广应用价值。     

粉末压片制样—X射线荧光光谱法测定钼铁中的钼

本文介绍了粉末压片制样-X射线荧光光谱法对钼铁中钼含量测定的检测方法。文中采用钼铁样品与微晶纤维素、硬脂酸按一定的质量比混匀并细磨后采用硼酸镶边-衬底技术进行样品制备。选用生产用普通系列样品绘制标准工作曲线,在X射线荧光光谱仪上测定钼的含量。测量结果与钼酸铅重量法分析结果相符。