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荧光量子效率是发射与吸收的光子数之比,是表征荧光材料发光性能的关键参数。然而,用于绝对法测量荧光量子效率的光路和探测器未经校准溯源或是校准方法不当,会造成测量光谱的不准确,进一步影响荧光量子效率计算结果的不准确。采用汞氩灯对单色仪进行校准,保证了激发波长和发射波长的准确性,利用标准辐射源对光路、发射单元单色仪和探测器进行光谱相对强度校准,保证了激发波段和发射波段光谱相对强度的准确性;最后从测量模型出发,对测量不确定度进行了分析,得到在300~360nm的激发光波段和370~900nm的发射光波段内相对合成标准不确定度为3.58%,相对扩展不确定度为7.16%,k=2。通过对单色仪波长校准以及对光谱相对强度进行校准,为荧光量子效率的准确测量提供了参考。 相似文献
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铂丝的微观形貌和位错密度与退火工艺密切相关,研究铂丝退火过程中微观形貌和位错密度的变化,可以优化退火工艺和提高铂丝电阻性能,为研发高性能铂电阻温度计提供支撑。研究表明:初始铂丝表面有黑色斑驳区域和划痕,有自生颗粒和外来颗粒。随着退火时间的延长,铂丝表面的黑色斑驳区域和划痕消失。退火过程中,铂晶粒晶界处的铂原子很不稳定,逐渐与碳原子形成含Pt和C的颗粒,晶界则变宽边深,产生许多孔隙;随着退火时间的延长,铂丝主体中的杂质元素只剩下C。初始铂丝晶粒的内部和晶界处均存在大量的位错,位错密度达到3.69×10^12 cm^-2,经历退火热处理后晶粒内部和晶界处的位错大量消失。铂丝被充分退火后,位错密度低至无法测出。 相似文献
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