全自动制样-X射线荧光光谱法测定硅铁中硅

采用全自动制样,建立了X射线荧光光谱法(XRF)快速测定硅铁中硅的方法。通过对比X-ray专用助磨剂、进口助磨剂、微晶纤维素、硬脂酸等几种助磨剂在制作硅铁压片时的使用效果,确定使用X-ray专用助磨剂作为硅铁压片添加剂,样品与助磨剂的添加比例为9:1(质量比);全自动制样机制备硅铁压片时,样品初始粒度要求过160目筛网(孔径96 μm)、研磨时间为130 s、压力为35 t、保压时间为20 s。用上述方法可以得到结构均匀致密、外表平整光滑的硅铁压片。采用不同时期的多个生产样合并为一个管理样,与购买的硅铁标样配制校准曲线标样,校准曲线硅含量范围能够满足测定要求,并有效消除矿物效应对测定的影响。采用实验方法测定硅铁中硅,分析结果同SN/T 1014.1—2001的氟硅酸钾滴定法相吻合,相对标准偏差(RSD,n=11)小于0.2%。     

氟硅酸钾容量法测定硅铁中硅的方法研究与改进

本文以降低氟硅酸钾容量法分析误差、提高分析方法准确度为目的,从方法原理和操作流程入手,对影响分析结果的关键因素进行实验研究和讨论。通过研究讨论结果对分析方法进行改进、完善,最终使分析方法准确度和精密度大为改善,单次分析误差范围由≤1.57%降低到≤0.97%。本研究结论可操作性强,在对分析结果准确度要求较高的领域中具有很好的参考和应用价值。     

熔片-X射线荧光光谱法测定焙烧钼精矿中钼、铅和铜

建立了熔片-X射线荧光光谱法测定焙烧钼精矿中的钼、铅和铜的分析方法。试验结果表明本方法对焙烧钼精矿中钼、铅和铜的测定结果与化学分析法相吻合、相对标准偏差小,方法准确可靠。     

原子荧光法测定焙烧钼精矿及钼铁中的锑

本文通过建立原子荧光法测定焙烧钼精矿及钼铁中锑的方法,对影响锑荧光强度的介质酸度、硼氢化钾浓度、还原剂等分析条件进行了试验,确定其仪器的检测应用条件,在本行业具有推广应用价值。     

钼精矿中钾含量分析方法改进

用微波密闭消解的方式替代电热板消解样品,以原子吸收光谱法通过人员比对、方法比对、实验室间比对的方式对钼精矿样品定值;定值样品经粉末压片后建立X-荧光光谱测定曲线,对生产样品进行钾含量分析。经过比对,荧光分析值与化学分析值相符,方法具有较好的准确度与精密度,可满足大批量钼精矿中钾含量的分析。