Al/Cu微米级厚度薄膜扩散连接工艺及显微组织分析

采用真空扩散连接工艺法,对Al与Cu薄膜扩散连接接头的组织性能进行实验研究,利用扫描电子显微镜(SEM)、X射线衍射(XRD)仪等测试方法对连接接头过渡区及基体组织和性能进行了分析.实验结果表明采用真空扩散连接工艺,加热温度为250℃、保温时间为30 min、压力为5 MPa时,Al/Cu薄膜界面处形成明显的过渡区,扩散界面控制在150 nm以内.     

X射线照相法测量超细金属丝直径

本文基于X射线照相技术与数字图像处理方法,实现了对超细金属丝直径的测量。与扫描电镜测量结果对比分析表明,该方法对超细金属丝直径的测量具有较高的置信度,测量不确定度分析表明,其合成测量不确定度在0.27μm左右。     

用Micro—CT测量ICFT型源靶柱腔诊断孔轴线与靶杆夹角的研究

用微CT测量ICF（惯性约束聚变）T型源靶柱腔诊断孔轴线与靶杆夹角（下文以θ代替）可以有效的排除柱腔外壁所镀金层厚度的不均匀对测量结果的影响。将微CT测量的两种方法与金层厚度均匀条件下用显微镜测量的结果进行比较,得出划定诊断孔上下边界点找中心的微CT测量方法具有更高的可信度。     

正弦调制薄膜的表征及测量误差分析

本文介绍调制薄膜的表征及测量误差分析,主要包括调制薄膜表面形貌的观测、振幅与波长的精确测量及测量误差分析两个部分.实验结果表明,利用本文所述方法可满足对调制膜的精确测量.     

应用白光共焦光谱测量金属薄膜厚度

为了精确测量自支撑金属薄膜厚度及其厚度分布,提出了基于白光共焦光谱传感器的金属薄膜厚度测量技术.介绍了该技术的测量原理及系统结构,研究了系统的测量不确定度.利用相向对顶安装的白光共焦传感器组、精密位移平台并结合自制的薄膜厚度校准样品,实现了对厚度为10～100 μm的自支撑金属薄膜的厚度及厚度分布的精确测量;通过研究系...