激光激活异步累加器硬件木马研究

随着集成电路设计制造的全球化,芯片存在被植入硬件木马的隐患.目前的硬件木马检测方法中,逻辑测试激活硬件木马的概率较低,侧信道检测受电路工艺偏差、硬件木马面积影响较大.本文提出基于激光注入的硬件木马检测方法,通过诱发数据翻转主动激活硬件木马触发逻辑,同时可以定位硬件木马触发逻辑的物理位置.采用1064 nm皮秒脉冲激光成...     

130 nm SOI D触发器链空间静电放电效应和单粒子效应对比试验研究

空间静电放电效应（SESD）和单粒子效应（SEE）是卫星设备异常的两个重要原因,但难以精确判断航天应用中产生的故障是由何种效应所导致。以130 nm SOI工艺D触发器（D flip flop）链为试验对象,利用静电放电发生器和脉冲激光试验装置,通过改变辐射源能量、测试模式、拓扑结构以及抗辐射加固结构等试验变量,试验研究SESD和SEE引起软错误的异同规律特征,其试验结果可为故障甄别及防护设计提供支撑。