激光相变硬化对离子渗氮层的影响

采用ＸＰＳ研究了３５ＣｒＭｏ钢离子氮化加激光相变硬化复合处理后不同层深处氮的变化。结果指出，复合工艺可在表层获得更深的氧氮化物层，含氮层的深度也将加大，并且与原渗氮层相比可在更深的位置得到氮化物层。     

两种二氧化硅吸附性能比较

对国内外两种柱层层析硅胶进行了吸附-脱附等温线测试,结果表明这两种硅胶的性能差异明显.SiO2-In(中国产)样品比表面积小,其孔径分布宽,最可几孔径为9.0nm,孔容为0.9mL/g;而SiO2-Out(美国产)的比表面积大,孔径分布窄,最可几孔径为2.5nm,孔容为0.4mL/g.     

LA-920激光粒度分析仪的应用

简述了激光粒度分析方法的特点、原理、以及测量过程中参数的选择。     

发酵液中透明质酸含量检测方法的优化与比较

对透明质酸含量检测方法CTAB比浊法和Bitter-Muir法进行了优化,并用于发酵液中透明质酸含量的检测。优化结果为：CTAB比浊法最佳检测波长为400 nm,CTAB溶液质量浓度为5 g/L,反应温度为室温,络合时间为3 min,回归线性方程y=0.007 1x-0.101 8,R=0.999 9,发酵液中加标平均回收率101.29%,平均RSD值为0.70%;Bitter-Muir法最佳检测波长为540 nm,水浴时间为10 min,线性回归方程y=0.005 8-0.199 3x,R=0.996 5,发酵液中加标平均回收率83.87%,平均RSD值为2.70%。结果表明,用于发酵液中透明质酸含量的检测,CTAB比浊法更准确、更精确、更高效。     

抗辐射加固与非加固工艺制备Si/SiO_2电离辐照的XPS深度剖析

采用氩离子刻蚀XPS分析方法对抗辐射加固与非加固工艺制备的Si/SiO_2系统进行电离辐照深度剖析。实验结果表明:在辐照剂量及偏置电场相同条件下辐照,非加固样品的界面区比加固样品界面区宽;同一工艺生长的SiO_2,衬底杂质浓度低的样品其界面区窄于衬底杂质浓度高的样品;辐照样品的Si过渡态密度最高位滞后于未辐照样品的;同时,加固样品Si过渡态及剩余氧的密度最高位出现慢于非加固样品的;衬底杂质浓度高的样品其Si过渡态及剩余氧的密度最高位的出现快于衬底杂质浓度低的样品的;此外含剩余氧的过渡层要比含Si过渡态的过渡层薄。最后根据实验结果,对Si/SiO_2三层模型进行了修正。     

XPS STUDIES OF IRRADIATED HARD AND SOFT Si—SiO_2

The interracial structure of hard and soft oxides grown by dry oxidation on<100> n-type silicon substrates is examined using high resolution mild X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) before and after irradiation. Substantial differences in silicon of silica state (B.E. 103.4 eV), silicon of transitional state (B.E. 101.5 eV), surplus oxygen (B.E. 529.6 eV) and negative two-valence oxygen (B.E. 531.4 eV) are observed between the two kinds of samples. The XPS spectra strongly depend on the conditions of irradiation for soft samples, but do not as remarkablely as soft samples for hard samples. The effects of irradiation doses on XPS are greater than that of irradiation bias fields. Some viewpoints of irradiation induced hole electron pair are proposed to explain the results.     

山楂酸奶的研制

首次对利用超微细山楂果粉加工天然山楂酸奶的可行性进行了研究 ,明确了工艺条件和成分配比 ,丰富了酸奶品种。     

微纳粉体粒度测试方法简述

简述了几种测试纳微粉体粒度及其分布的方法.同时采用XRD、动态光散射法、TEM以及比表面积法对自制Fe3O4粒子的粒度及其分布进行了测量.由此,在对纳微粉体进行粒度检测时,应在充分了解样品的分散性能的基础上,根据需要选择不同的仪器检测.     

层析硅胶吸附性能探讨

本文对国内外两种柱层层析硅胶进行了吸附-脱附等温线测试,结果表明这两种硅胶的性能差异明显。SiO_2-In(中国产)样品比表面积小,其孔径分布宽,最可几孔径为9.0nm,孔容为0.9 mL/g;而SiO_2-Out(美国产)的比表面积大,孔径分布窄,最可几孔径为2.5 nm,孔容为0.4 mL/g。     

SiO2图像分析法统计颗粒数对粒径影响的研究

采用图像分析法[1]对SiO2颗粒的透射电镜[2～3]照片进行统计,并讨论了统计颗粒数对粒径值的影响.同时与光子相关法[4]的结果进行对比.实验结果表明对于呈球形且单分散的颗粒而言,利用图像分析法测量其粒径时选择颗粒数大于100个即可,且统计颗粒数大于2500个时所得结果更接近其真实值.