EDXRF法直接测定氧化物陶瓷材料组分

叙述了用能量色散X射线荧光法(EDXRF)同时测定氧化物陶瓷材料组分的分析方法。该方法对样品无损，可直接测定ZrO2 Y2O3，ZrO2 CaO，ZrO2 Y2O3 CaO 3种陶瓷材料中的CaO，Y2O3和ZrO2；该方法快速、简便、可适用于粉末混合料和经高温烧结后的上述3种陶瓷材料；测定各组分的含量范围为：2％-25％的CaO，1．5％-20％的Y2O3，70％-98％的ZrO2，测定CaO和Y2O3的相对标准偏差好于2％，测定ZrO2的相对标准偏差好于1％。     

EDXRF法测定W-Mo-Ni-Fe合金组分

介绍了用能量色散X射线荧光光谱法（EDXRF）同时测定W—Mo—Ni—Fe合金组分的分析方法。当W、Mo、Ni和Fe的质量分数依次为70％～90％、7％～21％、2％～6％和1％～3％时，其测量结果的相对标准偏差依次不大于0．5％、1．5％、3％和4％。该方法快速、简便。     

EDXRF法直接测定W-Fe-Ni-Co合金混合料组分

介绍了用能量色散X射线荧光光谱法(EDXRF)测定W-Fe-Ni-Co合金混合料组分的分析方法.该方法将W-Fe-Ni-Co合金混合料样品直接压制成圆片,在能量色散X射线荧光光谱仪上直接测定其组分.当W、Fe、Ni和Co各组分的质量分数分别为80 wt%～98wt%、0.1wt%～7wt%、1.0wt%～10wt%和0.1wt%～1.5wt%时,测量各组分的相对标准不确定度依次不大于0.1%、1.5%、1.5%和4%.     

能量色散X射线荧光法测定涂钯硅藻土中的钯含量

在涂钯硅藻土样品中定量加入内标元素Mo和王水,制成分析试样,用能量色散X射线荧光（EDXRF）法测定钯含量。该方法可测定钯含量为5％－50％范围的涂钯硅藻土样品,方法快速、简便、其相对标准偏差优于1％,回收率98％－108％。     

γ辐射场探测特征γ全能峰绝对效率的Monte Carlo计算

将HPGeγ谱仪应用于评估放射性管道内过滤器滞留量,需要知道探测器对过滤器内γ辐射的绝对效率。根据Monte Carlo模拟光子输运过程的理沦,对过滤器内γ辐射的自吸收因子、路径上物质吸收因子、几何因子和晶体中的能量沉积等进行了描述。研究表明,实验检验模拟结果不确定度小于10％。     

Monte Carlo模拟韧致辐射光子穿透闪烁体的能量和通量分布

在工业CT设计中,为了选择闪烁体的种类和几何尺寸,需要知道韧致辐射光子穿透闪烁体的能量和通量分布。根据Monte Carlo模拟光子输运过程的理论,模拟了2MeV、9MeV韧致辐射光子在NaI、CsI、CdWO4闪烁体内的输运过程,讨论了这类光子穿透闪烁体后光斑展宽问题和能量及通量的分布。研究表明,该方法可准确直观地定量分析韧致辐射光子在闪烁体内任意位置的能量和通量分布规律。     

能量色散X荧光法测定茶叶中的微量元素

本文介绍了用国产能量色散ｘ射线荧光仪同时测定茶叶中的Ｃａ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｕ和Ｚｎ的分析方法。该方法采用将茶叶样品高温灰化，以Ｙ为内标，用ｘ射线荧光分析仪测定微量元素的含量取得了很好的结果。     

XRFA聚脂薄膜-滤纸试样制备

介绍了用于X射线荧光光谱分析的聚脂薄膜-滤纸试样制备方法及其效果实验结果。所制备的试样具有基体效应小、样品用量少、元素分布均匀、试样便于保存等优点,特别适用于易水解、难熔金属及其合金试样制备。     

γ谱法测定铀废料中的铀量

以U3O8标准物质作标样,选用^235U的185．7keV γ射线作为^235U的特征能峰,建立了γ谱法直接测定细颗粒固体铀废料（直接法）和测量液体铀废料（溶样法）的^235U总量与特片能峰强度关系曲线,用γ谱仪直接测定固体铀废料或溶液废料（将固体铀废料转化为溶液)保的^235U,再结合质谱法测得铀同位素丰度求得铀废料中的总铀量。直接法适用于氧化粉、碎切屑、淤泥等细颗粒铀废料,其回收率为95％－105％,测量结果的相对标准偏差优于1．5％;溶样法适用于氧化铍、切屑丝等可用化学试剂溶解的铀废料,其准确度和精密度均优于直接测量法,回收率为97％－103％,测量结果的相对标准偏差优于1％。     

~(233)U内标α谱法测定石墨中痕量~(239)Pu

在石墨粉末试样中加入2 33U作内标 ,用硝酸浸取样品中的Pu ,移取上层清液制成α源。用α谱仪测定2 33U和2 39Pu的α计数比 ,通过加入内标2 33U的已知量和2 33U、2 39Pu的相关参数 ,可求得2 39Pu的绝对量。该分析方法可测2 39Pu的含量为 0 1～ 10 μg/ g ,测量精密度 (n =6)优于 2 %。