高性能MCU的FPGA原型验证系统研究与平台实现

本文研究并实现了一种基于Cortex-A7核的高性能MCU在FPGA原型阶段的验证平台。该设计研究可以针对高性能MCU芯片或其FPGA原型验证阶段的软硬件验证环境快速搭建,通过交互式、软硬件协同的方式对MCU芯片各个模块功能进行实时、可靠的功能验证。高效的FPGA原型验证可以提高MCU研发速度、缩短验证时间、提高验证效率、及时发现芯片设计的缺陷、缩短芯片研发周期。     

中国纺织工程科技回顾与展望

通过对中国纺织业发展历程的回顾,分析了影响其发展的内外因素,探讨了新世纪纺织科技创新和发展前景,并对新世纪中国由纺织大国到纺织强国的发展提出了构想.     

基于Contourlet变换的焊缝X射线图像增强

为了改善X射线成像对比度低、背景噪声明显、被测工件细节不易显示等缺点.针对X射线图像的特点及常规增强方法的不足,应用一种基于Contourlet变换的增强算法,对X射线图像进行图像增强,提高了原图像的对比度和像质,达到了细节区域的最佳视觉效果.实验结果表明,该算法与直方图均衡和小波域图像增强方法相比,有效的增强了对比度、抑制了背景噪声.该算法对X射线图像增强后,图像所达到的射线检测标准比前两种算法高.     

MCU集成中的CAN IP缺陷分析与仿真解决

CAN总线是一种应用广泛的现场总线,特别是在汽车领域。越来越多的MCU芯片集成了CAN总线模块,以扩大MCU的应用范围和覆盖领域。本文阐述了在MCU中集成CAN IP时,FPGA验证阶段CAN IP缺陷的分析和解决方法。