时序电路测试向量融合算法

时序电路的测试序列通常由各个单故障的测试向量组成.为了减少测试时间和功耗,提出2种测试向量融合算法.借助融合灵活性的概念,2种算法按不同的方式对向量序列进行排序,并以融合深度和代价作为评判准则,构建向量的融合过程,最终生成整个电路的测试序列.该算法与已有的Greedy算法时间复杂度相同,但性能更优.在ISCAS89部分电路上的实验结果表明,采用文中算法可使平均性能分别提高4.96%和8.23%.故障仿真结果表明,文中算法的故障覆盖率有少量提高,故障分辨率变化较小.     

IEEE1445数据开发工具

数字电路板级故障诊断的标准接口文件IEEE1445(DTIF)已被各型ATE设备广泛支持,但在使用中普遍存在可读性较差、缺乏有效的人工干预接口等问题。本文介绍了DTIF文件的开发软件DTIFAssist,它在实现数据可视化的基础上,引导测试人员完成TPS开发的全过程,并最终生成标准文件,可有效提高历史测试数据的利用率,降低测试成本。     

一种基于微处理器的SOC自测试方案

提出了一种基于片上微处理器和透明路径测试访问的SOC自测试方案。以片上微处理器为测试加载和响应收集比较的主体,构造透明路径并行传输测试数据,以嵌入程序控制测试过程。可以在提高测试速度的同时,降低对测试设备性能的依赖,并可以进行全速测试,所需额外面积开销较小。实验表明,该测试方案是有效的。     

时序电路测试向量的压缩

时序电路测试生成算法产生的向量存在冗余。针对此问题提出一种压缩算法,减少测试序列的总长度,从而减少了仿真的时间和ATE设备的测试的时间,加速了测试的流程。实验结果表明,这种方法实现了较高的压缩效率,同时对测试序列的故障覆盖率和故障分辨率等参数影响很小。     

序列对递增生成的SOC测试调度算法

提出了一种确定性的片上系统 (SOC) 测试调度算法。在对测试环采取最优分配和平衡优化的基础上,构造包含四种序列对递增生成方法的循环迭代过程。该过程同时考虑测试访问机制的宽度、空隙面积、IP核测试面积等因素,可在较短的迭代步数得到有效的测试调度方案。对ITC’02 基准电路进行了实验。结果表明,在得到近似解的前提下,该算法较传统的模拟退火算法具有更快的运行速度。     

基于智能制造系统的医疗器械EO灭菌参数放行探究

医疗器械灭菌放行是生产环节的重要一部分,参数放行具有成本低、周期短的特点,风险前置能够最大程度保障医疗器械的无菌保证水平,但其实施过程中需要较高的设备配置、较强的技术能力、较高的生产质量管理水平等体系保障。通过引入智能制造系统,实现了环氧乙烷灭菌流程的全程智能化作业,显著提升了生产质量体系运行效果和灭菌生产的质量保证能力,达到参数放行的目的,并有效降低成本,对我国医疗器械监管逐步实施参数放行提供支持。