影像分析法接触角仪测量标准样板时的不确定度评定

本文分析了影像分析法接触角仪测量自制标准样板时主要的不确定度来源,并在对各不确定度分量进行分别评定的基础上,给出了扩展测量不确定度.评定结果表明,影像分析法接触角仪测量标准样板的不确定度大约在(0.5～1.0)*.其中,因基线位置的不确定性和液滴轮廓线拟合方法不同导致的测量结果变异是测量不确定度最主要的来源.     

掺杂CuO微纳米材料及其低温气敏性能的研究

采用水浴加热法合成CuO微米颗粒,并用Au、Ag和Cr元素进行掺杂。通过扫描电镜和X射线衍射仪对产物的形貌及组成进行表征,并将合成的粉体制成敏感膜,采用静态配气法对产物气敏性能进行研究。实验结果表明:制备合成的CuO颗粒呈微米片聚合成的橄榄或捧花状,尺寸范围在2μm～3μm;所有样品的XRD图谱与标准卡片一致;微米CuO的气敏性能随着测试温度的降低而提高。气敏测试表明:掺杂1.25 wt%Au的CuO对10×10^-6的H_2S气敏性能最好,最佳工作温度降低至40℃,响应值达到128,具有良好的选择性;此外,该传感器的最低检测下限达到100×10^-9,具有较好的重复性和长期稳定性,有望制备出低功耗H_2S气体传感器。     

离子液体辅助合成α-Fe2O3纳米棒及其气敏性能

采用水热合成法和热生长法,以六水氯化铁(Fe Cl_3·6H_2O)为铁源、氢氧化钠(Na OH)为沉淀剂、离子液体1-丁基-3-甲基咪唑氯化物([Bmim]Cl)为表面活性剂,两步合成了α-Fe_2O_3纳米棒,研究了沉淀剂Na OH和[Bmim]Cl添加量对产物形貌结构的影响,并且研究不同[Bmim]Cl添加量合成的α-Fe_2O_3纳米棒的气敏性能,结合能带理论分析了传感器的气敏响应机理。结果表明:当添加0.541 g Fe Cl_3·6H_2O和0.8 g Na OH,[Bmim]Cl的量为1 mmol时可以生成形貌均匀,分散性好,比表面积大的纯相α-Fe_2O_3纳米棒。气敏测试结果表明,其在工作温度为200℃下对5μL·L~(–1)的硫化氢气体的灵敏度达到8.4,检测范围达到0.1～20μL·L~(–1),并且具有良好的稳定性和选择性,有望应用于工业和生活中低浓度的硫化氢气体检测。     

高角环形暗场成像方法测定负载型纳米贵金属催化剂的粒径

高角环形暗场(HAADF)像的衬度与样品中平均原子序数的平方成正比,并且具有原子尺度的分辨率,因此可以有效地区分贵金属颗粒和催化剂载体,非常适于测量负载型纳米贵金属催化剂中活性中心颗粒的粒径.本文以Pd/ZnO催化剂为例,介绍利用HAADF成像法测定负载型纳米贵金属催化剂中贵金属粒径的方法.     

气体吸附BET法测量固态物质比表面积不确定度评定

气体吸附BET法是测定固态物质比表面积最常用的方法之一。本文以使用商用仪器ASAP2020型比表面积分析仪测定标准物质NIST1899的比表面积为例,分析了测量不确定度的主要来源,并在对各不确定度分量进行了分别评定的基础上给出了扩展不确定度。     

扫描电子显微镜测长标准物质：线宽标物与粒度标物

扫描电子显微镜（以下简称“扫描电镜”）是一种被广泛应用于材料微区形貌分析和微小尺寸测量的仪器设备。我国早在1988年就发布了JJG550—1988（（扫描电子显微镜（试行）》检定规程,1996年教委又专门发布了JJG（教委）010—1996（（分析型扫描电子显微镜》检定规程。开展扫描电镜的检定或校准工作,需要借助标准物质,其中包括分辨力标准物质、测长标准物质和化学成分标准物质。特别是测长标准物质,     

二氧化硅微球的扫描电镜测长及形貌观察条件

本文用日立S-4800型冷场发射扫描电镜对不同粒径二氧化硅微球进行测长研究及形貌观察,针对二氧化硅材料特性和工作目标,使用多种测试条件,通过结果对比,分别获得测定二氧化硅微球直径和进行形貌观察的适宜条件.     

机械加工强化机理与工艺技术研究进展

综述了两种机械加工强化机理：组织强化和应力强化。根据晶体位错理论分析,组织强化通过改变金属材料微观组织,提高位错密度,使材料流变应力增加,强度提高。介绍了用于解释机械加工位错强化、晶界强化、应变强化、择优取向强化的理论模型及各强化机理在机械加工强化中的作用,分析了应力强化中残余应力的产生原因。以文献研究为基础,总结了机械加工工艺强化原理和工艺设备的发展现状,讨论了机械加工强化机理和强化工艺的对应关系,指出了机械加工强化工艺的发展方向。     

p型CuO及其复合材料气体传感器的研究进展

氧化铜(CuO)是一种典型的p型半导体金属氧化物,但纯CuO作为敏感材料具有一定的缺陷,因此需采用一系列改性方法以提高CuO的气体敏感性能。综述了近年来基于CuO及其复合材料的气体传感器的研究进展,并指出了CuO基气体传感器目前存在的问题以及未来的研究方向。     

扫描电镜测量微纳米球形样品平均粒径的测量不确定度

以标称粒径为600纳米的亚微米球为例,分析了利用扫描电子显微镜测量微纳米球形样品平均粒径的测量不确定度主要来源,并在对各不确定度分量进行分别评估的基础上,给出了扩展测量不确定度。