一种分析混合稀土的快速、准确方法——ICP光谱法

长期以来,人们一直把x-射线荧光光谱法(XRF)作为分析混合稀土试样的标准分析方法,该法具有快速、准确、多元素测定及不用化学预处理的特点。但是,ICP光源的出现及分析应用使这一情况发生了变化。     

内标法在ICP光谱分析氧化钐中的应用——一种不用基体匹配的分析方法

本文考察了基体(氧化钐)浓度的变化对稀土杂质谱线强度的影响;对相应基体浓度下待测元素的分析线进行了选择;讨论了采用内标法以降低基体影响的可能性。实验结果表明:当氧化钐的浓度小于1mg/ml时,待测稀土元素谱线强度的变化不超过10%。若选择基体浓度为0.5mg/ml进样,以钪作内标,可以不用基体匹配而完全消除基体的抑制效应和改善方法的精密度。本法测定稀土的检出限分别为0.0009～0.11μg/ml;RSD为0.80～4.3%;可以满足1～2个“9”氧化钐分析的要求。     

ICP光谱法直接测定高纯氧化钇中痕量非稀土杂质

高纯稀土氧化物中非稀土杂质的含量一般在ppm(μg/g)数量级或更低。采用载体分馏法进行测定具有灵敏、操作简便的优点,测定下限达10~(-8)～10~(-5)%;但这一方法仅能测定稀土氧化物中的易挥发和中等挥发元素,且分析结果的精密度差。化学光谱法