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在集成电路测试领域常常需要对测试集和测试响应进行频谱分析,计算其频谱主分量,用于指导测试产生和进行测试数据压缩等.提出一种用KM (Kuhn-Munkras)算法增强测试集频谱主分量的方法,先根据测试集和其频谱主分量矩阵构建二分图模型和权值矩阵,把增强频谱主分量的问题转化为二分图的匹配问题,然后用KM算法求解.根据匹配关系调整测试集中测试向量的顺序后,频谱主分量和测试集的相关性增加,频谱主分量得到增强.在ISCAS-89基准电路测试集的实验表明,测试集排序后,其频谱主分量的相关性提高了19.05%,测试集残差FDR编码压缩率提高了4.59%.  相似文献
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