相调制光谱椭偏仪校准研究

对相调制光谱椭偏仪进行了用户级别的校准,结合椭偏理论简要讨论了校准的原理,测试结果表明椭偏角准确度达到0.01°.探讨了人为造成的准直调节不一致性以及样品膜层的不均匀性对样品测量结果的影响.对热氧化硅样片测量结果进行了统计分析,该工作是进一步研究椭偏仪误差和校准方法以及阿伏加德罗常数项目硅球表面层研究的基础.     

一种有效光强校准装置中闪光灯稳定性的修正方法

脉冲光源在航空、军事、警示等领域均有重要应用,有效光强是表征脉冲光源光度特性的基本评价参数,有效光强测试仪是测量脉冲光源有效光强的仪器。使用闪光灯对有效光强测试仪进行校准时,由于闪光灯自身的稳定性,会带来较大的误差。在我们建立的有效光强标准装置中,引入监视探测器来监测闪光灯有效光强的变化,可以大幅改善闪光灯自身稳定性对校准结果的影响。     

光探测器脉冲激光响应度温度特性测量与分析

在高精度控制环境温度条件下测量光电型、热偶型和热释电型三种光探测器的激光脉冲能量响应度温度特性.采用对入射激光正交取样的方法以消除测量时激光能量和偏振态变化对测量结果的影响,通过对蛙光电探测器等效电参数和能量测量方法的分析,指出光电探测器响应度随温度变化的原因,并提出减小影响的方法.     

从LED的配光曲线谈起

表述LED配光曲线的重要性,提出几种典型的LED配光曲线.阐述发光强度的空间分布不能等同于配光曲线,呼吁至少对LED逐渐用发光强度的三维立体图代替目前的配光曲线.     

显示器闪烁度测量方法的研究

介绍了显示器闪烁度的相关原理及测量方法,根据IDMS等标准中规定的闪烁度测量的对比法和JEITA法,建立了显示器光闪烁度测量装置,量值可溯源至国家时间频率基准和显示器标准,并利用色彩分析仪作为对比,测量了闪烁的频率响应特性,同时对主流CCFL背光和LED背光的液晶显示器闪烁度进行了测量,考察了不同波形对测量结果的影响以及不同方法的适用情况,对显示器测量仪器校准、显示器产品质量评价具有重要应用价值,是建立闪烁度测量标准的基础。     

玻璃基底和表面粗糙度在氮化硅薄膜椭偏测量中的影响

在光谱椭偏测量中,玻璃基底的背反射会给测量结果造成较大影响。针对平板显示器件玻璃基底表面氮化硅镀膜进行了椭偏测量和模型计算。采用相干背反射模型“空气基底空气”计算并拟合得到与厂商数据符合较好的玻璃基底折射率。对氮化硅薄膜采用Tauc Lorentz色散模型进行了分析拟合,讨论了薄膜与基底界面层、表面粗糙度对光学常数及模型拟合的影响,表明在薄膜与基底间晶格失配的情况下,界面层的引入对改善拟合度是必要的。给出了薄膜体系的光学常数、薄膜结构的分析结果。     

液晶显示标准白场装置的建立和研究

介绍能够溯源到国家光谱辐射度、光度与色度基准的标准白场仪装置,可用于显示器光色特性参数测量.对该装置进行了表述,给出了其光谱、稳定性以及光色参数.应用该标准装置对主流的液晶显示器进行了视角研究,并考虑了测量过程中所忽略的被测发光面积因素对视角特性的影响.结果表明,基于绝对亮度的视角阈值方法,差别可达8％以上,这是测量过程中需要考虑和避免的.应用四色矩阵法,针对滤光片式色度计在检测液晶显示器色度、亮度中出现的校准问题进行了初步研究,对正确使用该方法进行相关校准具有借鉴意义.     

一种高精度多功能辐射光度计的设计

介绍了一种具有智能接口技术的多功能辐射光度计.仪器主机有较高精度和较好重复再现性的微弱电流测量仪器,采用开关调制、差分对消技术,消除微弱电流测量系统的直流误差.仪器主机配备不同的探测器,可以组成不同的辐射度计或者光度计.探测器和主机间通过智能接口连接,主机通过读取探测器内存储芯片上的数据自动识别探测器类型,从而自动选择...     

用两类光探测器测量LED辐射强度之比较

本文介绍了热电型和光电型光探测器的结构,列出了Φ5mm普通LED法向辐射强度的量值,对测量结果作了分析,实验结果肯定了用热电型光探测器测量该参数的可行性和重要性,其量值可作为光电型光探测器改善测量精度的量化依据。