IR-UWB通信系统基带单元的VLSI实现

文章介绍了一种基于IR-UWB的通信系统的VLSI实现,对系统基带单元的设计实现进行了详细介绍,系统采用OOK调制,数据传输速率40Mbps,并在搭建的室内超宽带通信平台上得到了验证.     

ECC密码算法的差分功耗分析攻击研究

对基于有限域GF(2m)上椭圆曲线密码算法的Montgomery Ladder点乘算法进行了差分功耗分析攻击.首先用Verilog HDL实现了该算法并且用Chartered 0.35 μm CMOS工艺将RTL代码综合成电路网表,以便更精确的获取电路运行中所产生的功耗信息.然后用差分功耗分析攻击中的ZEMD攻击方法,并采用算法中P2的横坐标作为中间变量对功耗曲线进行分类,攻击结果显示,Montgomery Ladder算法不能抗ZEMD差分功耗分析攻击.证明了该算法并不安全,在实际应用中还应该采取一些保护措施.     

STATCOM无功电流的灰色预测控制

针对模型参数变化和噪声干扰的静止同步补偿器(STATCOM)单机无穷大系统,提出了一种基于灰色预测的无功电流控制.运用GM(1,1)模型预测下一时刻的无功电流,并根据STATCOM非线性数学模型建立了系统无功补偿电流的控制模型.从而将无功电流灰色预测控制补偿到PID控制中,利用来色系统理论进行预报,具有不必完全知道被控对象结构、参数和特性的优点,这对于像STATCOM这样大型非线性系统的预测控制实现非常有利.仿真结果表明,该方法比传统的PID控制具有更强的跟踪能力和鲁棒性.     

STATCOM在稳定接点电压中的新型控制方法

从应用角度，尝试将模糊控制与常规PI控制结合来控制STATCOM向电网注入或吸收无功功率，从而稳定接点电压，这种方法既充分利用PI控制精度高，又兼有模糊控制的灵活，适应性强，尤其在电网参数变化的动态过程中，可明显提高STATCOM的动、稳特性。     

静止同步补偿器在配电网的应用仿真

配电网电能质量问题日益严重,开发和研制能有效提高供电质量的补偿装置是电力系统研究领域的新热点。通过静止同步补偿器在配电网的应用仿真分析配电系统中静止同步补偿器(DSTATCOM)进行无功补偿的意义。通过对其工作原理的分析,用Matlab仿真软件对在配电网上应用STATCOM无功补偿进行仿真。得到了DSTATCOM随电源电压变化的动态响应波形图。DSTATCOM补偿器在配电系统中达到很好的动态补偿效果,推广应用的前景非常广阔。     

稳定性二氧化氯活化剂的筛选及应用

根据北方工业循环冷却水场秋冬季节水温偏低的情况 ,进行了大量的试验与研究 ,最后筛选出适宜的稳定性二氧化氯活化剂——硫酸 ,提高了二氧化氯的活化率 ,确保了二氧化氯的杀菌效果     

基于SST驱动器的低功耗10 Gbit/s发射机

基于SMIC 40 nm CMOS工艺,提出了一种可适用于背板与芯片互连的10 Gbit/s低功耗发射机。该发射机由半率前馈均衡器、时钟信号接收电路和源串联终端(SST)驱动器组成。前馈均衡器采用半率结构,以降低发射端的时钟信号频率。通过对发射端信号进行预加重,消除了码间干扰的影响。改进了SST驱动器的输出阻抗校准电路,解决了输出阻抗在不同工艺角下的波动问题。在相同输出摆幅下,SST电压模式驱动器的功耗为传统电流模式(CML)驱动器的1/4。结果表明,发射机的数据率为10 Gbit/s,传输信道在5 GHz Nyquist频率处的衰减为14.2 dB。在1.1 V电源电压下,传输信道输出信号的眼高为147 mV,眼宽为79 ps。发射机的总功耗为20.6 mW。     

环氧玻璃鳞片树脂防腐技术在阳离子交换器上的应用

本文介绍了环氧玻璃树脂鳞片技术在现场防腐中的应用，采用了新型冷法解决防腐问题，有助于彻底改变衬胶防腐衬里局部修补难度大的问题，是解决局部防腐的良好途径。     

组合加肋旋转壳应力和稳定性分析的Riccati传递矩阵法

运用Riccati传递矩阵法,建立了旋转壳单元的场传递矩阵,推导了肋骨和母线倾角不连续位置的点传递矩阵,在推导中考虑了肋骨各方向可能的变形,编制了分析组合加肋旋转壳应力和稳定性的计算机程序(应力程序SAPRi,稳定性程序BAPRi)。利用所编制的程序对组合加肋旋转壳算例进行了应力和稳定性分析,并将计算结果与理论计算结果、试验结果或MSC/NASTRAN的计算结果进行比较,表明所编制的程序正确可信、计算速度快、精度高。     

红外探测器工艺用器皿清洗方法研究

红外探测器材料一般为窄带系材料,在其制备工艺过程中,杂质离子更容易导致缺陷能级或表面快态复合中心,需选取较优的器皿清洗方法,对工艺用器皿所含金属离子进行评测控制。本文通过电感耦合等离子体质谱仪对比碲镉汞红外探测器工艺线上不同的器皿及清洗方法,对清洗后金属离子残留测试分析,获得较佳的器皿清洗方法,更好地保证红外探测器制备后性能。