排序方式: 共有34条查询结果,搜索用时 15 毫秒
1.
采用氧化物陶瓷工艺,按组分Li0.35+xZn0.3Mn0.06Fe2.29O4+δ+2%Bi2O3(x=0~0.180)在1 000℃下制备LiZn铁氧体,研究了不同富Li量对LiZn铁氧体微观结构、磁性能和介电性能的影响。结果表明,当富Li量x≤0.015时样品断面的微观形貌变化不大,晶粒均匀致密,而x≥0.045时,气孔和缺陷增多,晶粒尺寸减小;随着富Li量的增加,饱和磁化强度和剩磁比先略微增大后明显减小,矫顽力呈先缓慢后迅速增大趋势,而电阻率单调上升,介电损耗先下降后上升。当x=0.045时,LiZn铁氧体微观结构和磁性能较好,介电损耗角正切下降至5.25×10-4。 相似文献
2.
3.
采用传统氧化物烧结工艺制备高介电常数(ε′)钇铁石榴石铁氧体,考察不同烧结温度时Nb5+取代对材料显微结构、晶相、密度(d)、气孔率(p)、晶格常数(a)、饱和磁化强度(4πMs)、铁磁共振线宽(ΔH)和介电常数等磁性能的影响。结果表明,Nb5+取代使材料的晶粒尺寸略微增大;Nb5+取代对材料的晶相无明显影响,均为石榴石纯相;1020℃烧结时,随着Nb5+取代量x由0增大到0.075,4πMs从1882 G减小到1741 G,ΔH从149.3 Oe增大到180.2Oe,烧结体密度从5.83 g/cm3减小到5.72 g/cm3,烧结体平均晶粒尺寸(D)从2.29μm增加到2.38μm,气孔率(p)从1.7%增大到3.0%,ε′无明显变化。 相似文献
4.
缺铁量对LiZn铁氧体电磁性能的影响 总被引:2,自引:1,他引:1
采用氧化物陶瓷工艺制备组成为Li0.35Zn0.3Fe2.35-xO4(0≤x≤0.25)的铁氧体。用XRD、SEM分别对样品进行晶相和微观结构表征。采用谐振腔微扰法在9.3GHz频率下测试材料介电损耗及铁磁共振线宽,利用B-H分析仪测试材料磁性能,研究了缺铁量对LiZn铁氧体电磁性能的影响。结果表明,适量的缺铁配方能有效提高材料的直流电阻率,降低LiZn铁氧体微波介电损耗和铁磁共振线宽,提高饱和磁感应强度和矩形比,降低材料的矫顽力,但缺铁过多会使成份发生偏析,导致材料电磁性能恶化。 相似文献
5.
研究了预烧温度对LiZn铁氧体微结构、密度、气孔率和磁性能的影响.结果表明,预烧温度影响粉体的活性,适宜的预烧温度是获得良好显微结构和高性能铁氧体的必要保证.气孔率P减小,饱和磁感应强度Bs、矩形比Br/Bs(Br为剩余磁化强度)增加;平均晶粒尺寸Dm增大,矫顽力Hc减小.P和Dm决定铁磁共振线宽ΔH的大小,但前者的作用比后者大.当预烧温度为800 ℃时,材料的P 最小,Bs和Br/Bs达到最大值,ΔH有最小值.当预烧温度为950 ℃时,Dm最大,Hc最小.综合各方面的性能,最佳的预烧温度确定为800 ℃. 相似文献
6.
采用旋转喷涂法在Si(100)基片上制备Ni0.25Zn0.15Fe2.6O4(100 nm)铁氧体薄膜作为种子层,然后在种子层上采用射频磁控溅射法沉积Ni0.25Cu0.09Zn0.66Fe1.998O4(600 nm)铁氧体薄膜。研究了种子层对NiZn铁氧体双层膜微观形貌、饱和磁化强度、矫顽力、磁导率及截止频率的影响。结果表明,Ni0.25Zn0.15Fe2.6O4种子层的引入促进了NiZn铁氧体双层膜尖晶石相的晶化和晶粒生长。NiZn铁氧体双层膜的饱和磁化强度Ms为420 kA/m,矫顽力Hc为5.9kA/m,截止频率fr为1.37 GHz,磁导率μ’(300 MHz)高达202。 相似文献
7.
采用传统陶瓷工艺制备Gd3+和In3+取代的钇铁石榴石铁氧体,研究Gd3+和In3+取代对材料显微结构、饱和磁化强度、铁磁共振线宽、自旋波线宽、电阻率等性能的影响。研究表明,Gd3+取代24c位的Y3+,对样品显微结构、居里温度和电阻率无明显影响。随着Gd3+取代量的增加,自旋波线宽从9.7 Oe提高到21.7 Oe。为了降低石榴石铁氧体损耗,采用适量的In3+取代16a和24d位的Fe3+,铁磁共振线宽从198 Oe减小到95 Oe。此外,In3+取代对石榴石铁氧体的电阻率、介电常数和介电损耗影响不大,使其保持良好的介电性能。 相似文献
8.
9.
MnZn功率铁氧体高频功耗特性分析 总被引:1,自引:0,他引:1
采用氧化物陶瓷工艺制备了2~4MHz频段高频开关电源用MnZn功率铁氧体,通过对铁氧体断面显微结构、密度和磁特性的测试,研究了Fe2O3含量对MnZn功率铁氧体功率损耗特性的影响。结果表明,随着Fe2O3含量的增加,晶粒尺寸逐渐减小,常温下3MHz、10mT高频损耗(Pcv)先增大后减小,Fe2O3含量从58mol%增加到59 mol%时,损耗下降非常明显,而在100℃时,铁氧体的剩余损耗逐渐降低,导致总损耗随着Fe2O3含量的增加而减小。随着频率的升高,剩余损耗(Pr)占总损耗的比重逐渐增加,成为损耗的主要部分,而磁滞损耗(Ph)占总损耗的比重逐渐降低,涡流损耗(Pe)所占比重变化不明显。 相似文献
10.