二维晶粒短长程拓扑相关性的相场法研究

采用相场法研究了二维晶粒的拓扑特性。对105363个晶粒的边数、面积分布和短长程拓扑相关性进行定量表征。结果表明,晶粒边数分布为对数正态分布;晶粒的边数与晶粒面积呈正相关;中心晶粒与近邻晶粒的短程拓扑相关性较强,而与长程拓扑相关性较弱。