中子小角散射实验中放射性样品伴随γ抑制

为抑制中子小角散射实验中伴随γ辐射的影响,研究弱散射能力中子辐照样品在不同实验条件下探测器获取的散射信号。结果表明:通过适当降低探测器的阳极工作电压,伴随γ辐射信号在全背底中的贡献比例降低,二维散射图谱环向均匀性大幅提升,散射信号的信噪比明显提高;根据辐照样品特性优选探测器阳极工作电压,可抑制伴随γ辐射的影响,改善样品的散射数据质量。     

改善中子小角散射谱仪品质的聚焦透镜组设计

根据中子聚焦透镜基本原理,结合绵阳中子小角散射谱仪最小Q布局,设计了一套旨在提高该谱仪品质的聚焦透镜组,并分别计算了使用该透镜组的中子小角散射谱仪在样品位置中子强度、谱仪最小Q值和谱仪Q分辨率的改善情况。     

使用山嵛酸银标定中子小角散射谱仪的关键参数

为了快速标定中子小角散射谱仪的关键参数:速度选择器的选择波长和波长分辨率以及谱仪布局下的Q分辨率,采用实验方法对山嵛酸银粉末的中子小角散射实验数据进行了拟合.首先,确定谱仪布局,包括准直光阑孔径大小、准直长度、样品到探测器之间的距离;其次,在中子小角散射谱仪的机械速度选择器设置在3 000、4 000、5 000和6 000r·min-1 4种不同转速下,测定山嵛酸银粉末的中子小角散射谱;最后,对实验数据进行反演分析.通过分析,计算出该机械速度选择器常数为2 329.2 r· m-1·nm,从而得到了4种不同转速所对应的选择波长分别为0.776、0.582、0.466、0.388 nm;通过对实验数据的拟合还得到了该速度选择器的波长分辨率(23.75％),以及在此谱仪布局下的Q分辨率曲线.结果表明,使用山嵛酸银粉末的中子小角散射能够较好地标定谱仪的关键参数,从而支持对中子小角散射数据的正确分析和反演.     

中子衍射应力谱仪的模拟计算

中子衍射法是迄今为止可直接测量材料或工程部件内部深处应力场分布的唯一非破坏性方法,在工程上具有重要的应用。论文用McStas软件模拟计算了应力谱仪样品台处的注量率,同时理论计算了谱仪的分辨率,并且分析了第二准直器对样品台处中子注量率和谱仪分辨率的影响,结果表明谱仪的第二准直器对中子注量率影响很大,样品处衍射角小于120°时,谱仪分辨率良好。     

中子小角散射谱仪探测器标定测试方法

介绍了用于中子小角散射谱仪上的二维位敏探测器标定测试方法。通过对MK-640N-1类型二维位敏探测器的3个重要指标:探测器效率、探测器分辨率和探测器单元均匀性的测试和计算,得到了重要的数据指标,对实验的数据的准确分析提供了支持。     

用于中子粉末衍射仪的高低温环境设备

中子粉末衍射在材料研究领域有广泛的应用,中物院核物理与化学所从俄罗斯引进一台中子粉末衍射仪,该设备采用了热炉和低温保持器提供样品所需高温和低温条件,文中介绍了高低温环境设备的结构和主要参数,并测得温度曲线。     

中子小角散射谱仪Q分辨率计算和对形状因子影响分析

介绍了中子小角散射谱仪分辨率函数及其相关的Q标准差计算方法,分析了Q标准差有关谱仪的几何布局、中子的波长弥散对其的影响.介绍了一维Q分辨高斯函数计算方法.结合两个具体谱仪布局和一个理想实心球体的形状因子曲线,卷积得到了不同谱仪布局下形状因子的弥散曲线,对精确分析中子小角散射数据,应结合使用谱仪分辨率函数.     

重力场中子小角散射Q分辨函数计算方法

中子小角散射由于散射路径较长,中子飞行过程中重力的影响不能被忽略。通过vitess程序模拟证实了重力对Q的贡献,并通过解析计算,在单束准直长度L1=L2=12m、Q为0．1nm^-1时候,得到了重力场中子小角散射口分辨函数：QG达到实际散射矢量的0．95％,修正计算得到的Q0值比实际散射矢量增加约0．2％,Q分辨函数宽度为6．7％,表明计算后得到的Q0值更接近于真实矢量值。本文研究工作可以为中子小角散射实验人员提供数据处理过程的重力影响扣除计算方法和数值参考。     

SANS准直器的蒙特卡罗模拟

本文采用基于蒙特卡罗方法的谱仪设计软件VITESS,对中子小角散射谱仪上三种不同形状的准直器进行了模拟。比较了这三种不同准直器在输入条件相同的情况下,它们出口处的中子注量率、水平面和竖直面的中子角分布。通过分析,采用具有超镜因子m=1．5的bender类型的准直器可以获得较高的中子注量率,但是其水平面角分布相对其它两种稍微偏大。这为中子小角散射谱仪设计中准直器的选择提供了一个参考。     

二维数据处理程序PXY的应用

介绍了中子小角散射实验数据处理程序PXY,该程序能较好地进行多维处理数据.作者做了范例数据的二维处理,并对结果进行分析.还做了AgBE粉末样品的在中子小角散射谱仪上的波长校正实验,并对实验数据使用PXY程序作了处理,分析了处理结果.