氘基体中痕量氦的质谱在线分析

研制了在线检测氘基体中痕量氦的分析装置,包括气体进样部分、锆铝泵氘氦分离系统和四极质谱仪。研究结果表明,在线分析方法的氦-4检出限可达4×10~8个原子。     

激光解吸/激光后电离质谱法快速检测黄酒中酪胺

黄酒是中国特有的酒类，营养丰富，酒曲中酶的作用可产生酪胺，人体中酪胺含量高低会影响神经传递过程。使用高效液相色谱-质谱法（HPLC/MS）分析黄酒中的酪胺，灵敏度高但需要复杂的样品前处理。本研究建立了激光解吸/激光后电离质谱法（解吸激光波长532 nm，后电离激光波长266 nm）快速检测黄酒体系中的酪胺，通过对梯度浓度的酪胺纯样进行分析，计算酪胺纯样的检出限。将该方法直接用于黄酒样品的快速分析，使用标准加入法测定黄酒中酪胺含量。本方法对酪胺纯样的检出限为32 μg/L，标准加入法测得的黄酒中酪胺含量约为68 mg/L，在安全食用范围内。该方法无需任何样品前处理，快捷省时，且谱图简单清晰，信噪比高，适用于实际样品中酪胺成分的选择性快速检测。     

激光后电离技术对高电离能元素的信号增强

固体样品的元素分析一直是分析化学重点关注的对象。激光作为一种固体直接采样和电离技术，常与飞行时间质谱联用，用于固体样品的元素分析。然而，对于高电离能元素的检测往往需要较大的激光功率密度，导致其离子的动能分散较大，严重影响谱图分辨率。本研究使用激光解吸/激光后电离质谱法（解吸激光波长515 nm，后电离激光波长266 nm）对固体样品中的Pd、Sb、Cd、Au等高电离能元素进行分析。一方面，采用较弱的解吸激光能量解决了强激光解吸电离所带来的动能分散问题，显著提高了谱图分辨率；另一方面，利用较强的后电离激光电离原来被“浪费”掉的绝大部分中性原子，提高原子利用率和仪器灵敏度。该方法无需任何样品前处理、分析时间短、操作简单，适用于固体中高电离能元素的快速检测。     

瞬短脉冲辉光放电飞行时间质谱仪

本文介绍了本实验室研制的瞬短脉冲辉光放电飞行时间质谱仪。其中，辉光放电离子源具有离子产额高、工作稳定可靠等特点，可用于对金属（合金）样品的直接分析。该仪器为国内首台自制的常压（低真空）等离子体飞行时间质谱仪，亦为国际上首台瞬短脉冲辉光放电质谱仪，为研究瞬短脉冲辉光放电及其应用这一新兴领域打下了基础，仪器的分辨本领优于５００。     

用于飞行时间质谱检测的小信号宽带放大器

报道了用于飞行时间质谱检测的上信号宽带放大器的研制。放大器带宽从ＤＣ至２００ＭＨｚ，最大信号幅度２Ｖ，输入输出阻抗均为５０Ω。     

激光溅射电离飞行时间质谱用于矿样分析的研究及技术比较

将自行研制的激光溅射电离飞行时间质谱仪（LAI-TOFMS）用于辉绿岩（GBW07123）、石榴石和硅化木3种矿物样品的直接分析，初步讨论了元素含量和元素相对含量的计算方法，计算过程中选Mn作参考元素，并将LAI-TOFMS与电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）、X射线荧光光谱（XRF）在样品分析过程和分析结果方面进行比较。LAI-TOFMS中，元素含量是通过相对灵敏系数（RSC）和Mn的含量计算得到，元素的相对含量与元素的相对原子质量及其质谱峰的强度有关；对于ICP-MS和XRF，元素的相对含量是待测元素和Mn含量的比值。初步研究表明：LAI-TOFMS, ICP-MS和XRF 3种分析方法测得的元素含量和元素相对含量结果相对符合较好。此外，由于具有样品前处理简单、几乎不污染样品、样品消耗量少等优点，LAI-TOFMS能够提高矿物样品的分析检测效率。     

辉光放电质谱仪的历史现状与未来

本文介绍辉光放电（ＧｌｏｗＤｉｓｃｈａｒｇｅ，ＧＤ）作为质谱仪离子源的发展过程，叙述了多种形式的辉光放电离子源的特性及应用，并就辉光放电质谱仪做为分析手段与其他分析方法进行了比较，对该领域的杰出人士及辉光放电商品仪器进行了介绍，最后根据专家们的分析，探讨了辉光放电质谱仪的未来工作方向。     

电感耦合等离子体质谱仪与辉光放电质谱仪的进展

本文评述了近几年来电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)和辉光放电质谱仪(GDMS)的发展。介绍了基础研究、商品仪器和应用情况,展望了今后的发展前景。     

高功率激光电离飞行时间质谱技术

对于传统的高功率激光质谱存在的关键问题,如离子动能分散、多价离子和多原子离子干扰、基体效应和分馏效应等,高功率激光电离飞行时间质谱(LI-TOF MS)通过仪器结构设计及实验条件的优化等可以很好地解决。目前,LI-TOF MS的应用包括地质和金属样品中元素的定性和无标样半定量分析、非金属元素的测定、元素表面成像分析和薄层的深度剖析、液体残渣分析、复杂生物材料中元素组成的确定,甚至对于有机金属化合物也可以同时获得分子、碎片和元素信息。本工作综述了LI-TOF MS技术的发展历程,分析了其在不同领域中的优势,并对其应用领域拓展的新方向和仪器的改进目标进行了展望。     

太阳能级晶体硅中杂质的质谱检测方法

太阳能级晶体硅材料中杂质的种类和含量直接影响太阳能电池的发电效率,因此硅材料中杂质含量和分布的检测至关重要。当今社会光伏产业的迅猛发展,推进了晶体硅检测技术的更新和发展。本文总结了近年来在硅材料杂质检测中所使用的方法以及这些方法的不足;比较了电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）、辉光放电质谱（GDMS）、二次离子质谱（SIMS）和激光电离质谱（LIMS）四种可用于太阳能级晶体硅检测的原理和优缺点。