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应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的含量,可适应RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题。其相对标准偏差(RSD):2.03%;检出限:0.0646mg/L;线性范围宽,校准曲线的线性相关系数应大于0.999等。有效地将铬(Ⅵ)、铬(III)分离,并有效地消除基体干扰等,完全能够适应电子电气产品中铬(Ⅵ)的测定。 相似文献
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原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的方法研究 总被引:1,自引:0,他引:1
应用原子荧光光谱法测定电子电气产品中铬(Ⅵ)的含量,可适应RoHS中各种复杂样品的检测以及改善样品消解等诸多实际问题。其相对标准偏差(RSD):2.03%;检出限:0.0646mg/L;线性范围宽,校准曲线的线性相关系数应大于0.999等。有效地将铬(Ⅵ)、铬(Ⅲ)分离,并有效地消除基体干扰等,完全能够适应电子电气产品中铬(Ⅵ)的测定。 相似文献
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