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双纵模热稳频激光源的模糊PID控制研究 总被引:4,自引:0,他引:4
为了满足激光拍频干涉仪所需要的高的频率稳定性的激光光源,研究了双纵模热稳频的机理。以控制激光管放电电流为主要热控制方式及自创的对激光管进行感应加热作为微量控制的先进方法为控制手段,采用模糊控制理论与专家系统相结合的控制策略,建立模糊PID控制器,对双纵模激光源进行稳频。无须建立被控对象数学模型,对时滞、非线形和时变性具有一定的适应能力。实验结果显示,稳频精度无明显变化,但预热时间明显缩短,抗干扰性明显增强,强干扰后也能迅速稳频。 相似文献
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磁光/涡流实时成像检测系统的研究 总被引:1,自引:0,他引:1
介绍了磁光/涡流成像检测系统的基本工作原理及组成,给出了初步的实验结果,并对试验结果进行了相应的图像处理,实现了对表面及亚表面细小缺陷的可视化无损检测,克服了传统的涡流检测方法中探头尺寸相对较小而检测面积大,检测工作要消耗大量时间且不易操作的缺点,并具有探测结果可视化且直观易懂;易于保存;检测难度低;检测前不需要清除油漆等表面覆盖层,只需要保证待检测表面具有较好的反射性能;可对亚表面以及表面缺陷进行实时成像检测等优点。试验结果进一步验证了系统的正确性和重要性。 相似文献
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本文着重介绍精密计量行业中运用的He-Ne激光器的稳频技术,并综述了He-Ne激光器单模、双模稳频技术的现状和发展动向以及新兴的半导体激光器稳频技术. 相似文献
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激光表面粗糙度测量仪的研制 总被引:1,自引:0,他引:1
激光表面粗糙度测量仪利用半导体激光器为光源,激光束投射到试件表面经微观形貌调制而形成散射场,根据对散射场分布的处理测量表面粗糙度。接收半散射带的方法处理散射光分布,测量对试件的放置位置要求低(允许的最大倾斜度X向±2°,y向±5°,测量距离偏差限为±2mm);测量范围Ra从0.005μm到2μm,配置附件可对有特殊形面的试件和内表面的粗糙度进行测量. 相似文献
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精细表面下细小缺陷的磁光涡流成像实时探测 总被引:1,自引:0,他引:1
磁光涡流成像检测装置可实现精细表面下细小缺陷探测。在该装置中,通过物体表面上方的交流激励线圈实现传统的涡流感应,涡流所感应的磁场由法拉第效应来检测。为了实现表面下缺陷的检测目标,激光穿过安放在激励线圈中的特殊的磁光晶体,激光偏振方向在晶体中的旋转大小取决于检测区域磁场的大小,缺陷将使检测区域磁场分量发生变化并使偏振光的旋转角发生相应变化,通过一光学装置转化成“明”或“暗”图像,该光学装置由传统的显微镜、照明系统、偏振器和CCD图像传感器组成。给出了初步的实验探测结果。 相似文献
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线阵CCD在高精度测量系统中的照明选择 总被引:3,自引:0,他引:3
本文讨论了线阵CCD在一非接触高精度测量系统中照明光源的选择问题。由于测量点多,要求测量速度,精度高,线阵CCD又处于运动状态,因此在光积分时间非常短的情况下,对物体的照明提出了较高要求。本文在实验基础上通过比较多种照明光源,找出了满足高精度、高速度测量系统测量要求的照明光源。 相似文献
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一种亚纳米级分辨力同轴式激光轮廓测量系统 总被引:1,自引:0,他引:1
分析了一种同轴式激光轮廓测量系统的工作原理,开发出了一套基于WINDOWS的测量控制软件,使它具有自动控制、数据采集、信息处理及结果输出等功能,可以用三维图形直观显示被测量物体表面微观形貌、进行多种表面粗糙度参数计算。此测量系统的分辨力优于0.1nm,重复性2σ优于1.2nm。 相似文献
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