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地下洞室围岩稳定性评判方法新探讨 总被引:13,自引:5,他引:13
基于以围岩出现一定塑性松动区时对变形作为标准的围岩稳定性评判新思路,根据芬纳公式和修正的芬纳公式建立能够综合反映地下洞室围岩变形模量、强度参数以及洞室埋深的围岩稳定性评价指标分析方法,并与经验方法、规范推荐方法进行对比分析。该评判方法在西安市黑河引水工程和四川紫坪铺水利枢纽工程中的成功应用,表明该评判方法较经验方法、规范推荐方法更为科学、可靠,更具有可操作性与实用性。 相似文献
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围岩松动圈的弹塑性位移反分析方法探索 总被引:5,自引:3,他引:5
在按弹塑性理论进行地下工程设计与分析时,真实工作状态下岩体力学参数的确定十分重要和必要。为确定这些岩体力学参数,从洞室监测过程中的实际情况出发,根据掌子面的推进过程与监测位移间的变化情况,将监测位移进行弹塑性分离,从而提出一种行之有效、易于工程实际操作的考虑围岩松动圈的弹塑性位移反分析方法。该反分析方法所得结果与设定值吻合良好,并通过工程实例得到验证,为工程实践提供一个切实可行的实施方案以确定这些有用的参数,是岩土工程信息化设计、施工的重要手段。 相似文献
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双重介质部分射开渗流模型与试井样板曲线 总被引:2,自引:2,他引:0
针对天然裂缝型油藏部分射开这一情形,建立了考虑井筒储集效应和表皮效应在不渗透顶边界、不渗透底边界、定压顶边界和定压底边界的相互组合边界条件下的不稳定渗流物理数学模型.通过La-place变换和分离变量法对模型进行了求解,得到了Laplace空间解析解,再利用Stehfest数值反演得到实空间的解,进而绘制了压力和压力导数双对数样板曲线.从物理渗流机理上对曲线形态特征进行了分析.并划分了流动阶段.研究结果表明:与部分射开相关的参数只影响压力导数曲线的早期形态;若用完全射开模型对部分射开井进行试井解释,将会解释出一个较大的表皮,产生一种井底污染严重的假象而得出不准确的判断;对打开程度较小的部分射开井,若选用完全射开模型进行试井解释,误差较大.所获得的结果可用于研究双重介质天然裂缝型储层中部分射开井的渗流规律,进行压力动态和试井分析. 相似文献
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研究了一类具有时滞及非线性特性发生率的SIRS传染病模型,首先利用特征值理论分析了无病平衡点和地方病平衡点的局部稳定性;并以时滞τ作为分岔参数,分析了模型的Hopf分岔行为,运用中心流形定理和规范型理论给出了分岔方向及分岔周期解稳定性的计算公式;最后,数值模拟验证了理论分析结果. 相似文献
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采用TG-DTG、FI-IR和AFM等测试手段研究复合膜的热稳定性、化学组成及其表面微观形貌,以异丙醇铝和钛酸丁酯为前躯体,选择溶胶凝胶法制备A l2O3-TiO2复合膜.结果表明,温度为60℃,相对湿度保持70%可得到完整性较好的凝胶膜;复合膜的热稳定性好,500℃以后没有明显的质量损失;复合凝胶中没有出现A l-O-Ti键,说明A l2O3组分与TiO2组分在复合过程中,没有发生化学反应,TiO2富集于A l2O3的表面.原子力显微镜分析表明薄膜表面均匀平整,所得平均孔径约为20 nm. 相似文献
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井打在大尺度溶洞内的缝洞型油藏试井模型 总被引:4,自引:1,他引:3
天然缝洞型碳酸盐岩油藏中存在大尺度溶洞。鉴于钻井过程中会出现钻杆放空、泥浆大量漏失等现象,建立了井打在大尺度溶洞内的试井解释物理数学模型。通过格林函数和Laplace变换法求得了拉氏空间井底压力表达式,对影响井底压力动态的主要因素进行了分析。结果表明,当井打在洞内时,由于洞内的渗透性要远好于洞外地层,因此压力导数曲线后期出现明显上翘,溶洞的大小主要影响压力从洞内传播到洞外的时间长短。以缝洞型碳酸盐岩油藏中溶洞内一口井为实例对其进行了试井解释,验证了该数学模型。 相似文献
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塔北隆起英买32潜山区白云岩储层特征及主控因素研究 总被引:2,自引:0,他引:2
英买32潜山区白云岩优质储层是勘探开发的重点目标,关于其形成的主控因素,存在表生岩溶成因和热液成因两种不同观点。通过对白云岩岩心特征、薄片特征、物性特征、毛细管压力曲线特征及钻井漏失情况等进行综合分析,认为,英买32潜山区白云岩总体上属裂缝-孔洞复合型储层,溶洞、溶缝为主要储集空间,局部有大型未充填洞穴发育。研究区白云岩储层经历了白云石化、热液、构造及表生岩溶等作用。而热液溶蚀作用、构造作用是该区白云岩形成优质储层的关键。 相似文献
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以正硅酸乙酯和钛酸丁酯为原料,用溶胶-凝胶法制备SiO2-TiO2复合膜.采用TG-DTG、FT-IR和AFM等测试技术对膜的热稳定性、凝胶膜热处理前后的结构变化和复合膜的表面微观形貌进行表征.实验结果表明:分级干燥或者保持65%相对湿度的直接干燥可以得到无裂纹的凝胶膜;复合膜的热稳定较好,600℃以后没有明显的质量损失;焙烧过程中,不同升温区间采用不同的升温速率,以防止膜开裂;复合膜在制备过程中形成了Si-O-Ti键,经烧结后Si-O-Ti键位置没有发生明显位移;原子力显微镜分析表明,膜表面完整无缺陷,干燥和烧结时,体系内的有机物和水分挥发,在体系内造成了丰富的孔道结构,薄膜平均孔径约为50 nm. 相似文献