基于Walabot的墙体管道分布扫描设计

为精确探测墙体内部管线结构的位置,本文使用Walabot进行二次开发,对墙体表面进行扫描获取原始图像切片,通过基于线性多通道的图像混合方法拼接图像,实现墙体扫视全局成像,绘制墙内管线分布图。此外,本文针对纵向和横向两种不同的扫描方式得到的拼接图像,基于最小二乘法、梯度下降法、线性回归神经网络三种方法对管道实际位置进行线性回归分析。结果表明,本文所用方法拟合出的墙内管线方程与实际位置一致。     

高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC

高分辨电子显微像因离焦量和晶体厚度等因素的影响，未必能正确反映晶体结构。为此，李方华等建立并发展了高分辨像的解卷处理技术，将单张高分辨像恢复为结构像，并提高像的分辨率。DEC是为高分辨像解卷处理编写的配套计算机程序，将此程序应用于Si0.75Ge0.24晶体中缺陷的实验高分辨像，     

透射电镜原子像的数值分析

高分辨电子显微术（HRTEM）已广泛应用于材料结构的测定，且分辨率已达到原子尺度。特别是近年来球差校正电子显微术的发展大大增加了获取各种材料结构原子像的可行性。然而，球差校正的高分辨电子显微像并未像人们期望的那样以信息分辨极限的分辨率直接反映材料结构，它们仍需要配以计算像模拟或图像处理技术才可给出可靠的结构信息。     

基于相位差误差补偿的磁元件损耗测量法

准确评估磁元件损耗对高频功率变换器效率和热设计至关重要。交流功率法广泛用于低频领域的电气电子设备功率和元器件损耗的测量,该方法对电压和电流之间的相位差比较敏感,导致交流功率法在高频领域难以准确测量被测件的损耗。本文提出一种采用无感电阻进行相位差误差补偿的测量方法,克服了相位差的测量误差对高频磁元件损耗测量的影响。分析了测量方法的工作原理,通过求解无感电阻和磁元件损耗的测量公式以消除相位差导致的测量误差,得到新的磁元件损耗测量公式。进一步分析了新测量方法的影响因素,以降低其对测量结果的影响。最后,建立了一个测量平台,在1.2 MHz频率范围内正弦波激励工况下对两种磁元件进行损耗测量,并与阻抗测量法和量热法进行了对比。实验结果验证了提出的方法能够准确有效地测量高频磁元件的损耗。     

牛血清蛋白磁性壳聚糖微球谷氨酸改性吸附

研究谷氨酸改性磁性壳聚糖微球对于牛血清白蛋白的吸附。采用反相悬浮法制备谷氨酸改性磁性壳聚糖微球(GA-CMNs),利用红外光谱仪检测壳聚糖连接谷氨酸效果、扫描电子显微镜(SEM)观察微球形貌、激光粒度仪检测微球粒径分布;考察不同pH值、NaCl质量分数、BSA质量浓度、吸附时间对谷氨酸改性磁性壳聚糖微球BSA吸附效果的影响,并对吸附行为进行吸附动力学和吸附热力学分析。结果表明:最佳吸附溶液pH值为5,BSA质量浓度、吸附时间与BSA吸附量呈正相关,而NaCl质量分数则相反;谷氨酸改性磁性壳聚糖微球对BSA吸附平衡过程符合动力学准二级方程模型和Langmuir吸附等温线模型,在BSA初始质量浓度为1 mg/mL时有最大平衡吸附值,为83.5 mg/g;经过5次3%NaCl溶液洗脱-吸附操作循环后,洗脱率仍高于90%。谷氨酸改性磁性壳聚糖微球对牛血清蛋白的吸附性能良好。     

定量三维电子显微术及三维电子衍射

用电子晶体学可以确定尺度在微米甚至纳米级晶体的原子结构。它所要求的晶体尺寸比X射线晶体学所需的小百万倍。确定晶体的原子结构既可通过对高分辨电子显微像作图像处理,也可直接用电子衍射数据。同时还可将高分辨电子显微像和电子衍射数据与X射线粉末衍射结合起来确定晶体结构。如果晶体的单胞很大,原子在任何方向上的投影都有重叠,确定晶体的原子结构则需要拍摄一系列不同晶带轴的电子衍射图及高分辨像,再将其综合起来重构晶体的三维静电势图,以得到晶体的原子位置。本文将概括地介绍最近十几年中电子晶体学的一些最新进展及其在无机晶体结构解析方面的一些最新应用实例。     

GaN缺陷晶体高分辨电子显微像的解卷处理

拍摄高分辨电子显微像时未必总靠近Scherzer聚焦条件，且晶体有一定厚度，致使像未必反映晶体结构。对高分辨像进行解卷处理是校正像中畸变的晶体结构信息并提高图像分辨率的有效方法。本文用高分辨像图像解卷处理方法研究GaN材料中缺陷核心的原子配置。     

众维煤业绿色矿山建设思路及成效

绿色矿山就是坚持可持续发展战略,坚持科学发展观;走科技含量高、经济效益好、资源消耗低、环境污染少、土地资源得到有效保护的现代化绿色矿井。论述了众维煤业历经7 a多的发展过程提出的以生态环境保护为目标的开采新模式,阐述了矿山绿色开采、生态保护、采空区环境治理、生活区污水处理、节能减排、矿井有毒有害气体的治理等可持续发展的一系列有效方法。     

球差校正高分辨电子显微像的像衬和解卷处理

本工作将赝弱相位物体近似像衬理论延伸至球差校正高分辨电子显微像,分析了球差校正像的衬度随样品厚度的变化规律。指出非Schemer聚焦条件下球差校正电镜拍摄的高分辨像仍未必反映晶体结构,讨论了解卷处理方法应用于球差校正像的有效性,并以有12型层错的GaN晶体为例,借助像模拟肯定了解卷处理能用于复原原子分辨率晶体缺陷的结构像。