高分辨电子显微像的解卷处理程序:DEC

高分辨电子显微像因离焦量和晶体厚度等因素的影响，未必能正确反映晶体结构。为此，李方华等建立并发展了高分辨像的解卷处理技术，将单张高分辨像恢复为结构像，并提高像的分辨率。DEC是为高分辨像解卷处理编写的配套计算机程序，将此程序应用于Si0.75Ge0.24晶体中缺陷的实验高分辨像，     

场发射高分辨电子显微像的图像处理

场发射高分辨电子显微像的图像处理何万中陈弘李方华（中国科学院物理研究所，北京１０００８０）与非场发射电子显微镜（以下简称电镜）相比，场发射（ＦＥ）电镜的衬度传递函数（ＣＴＦ）随空间频率增大而衰减的速度要缓慢得多。因此，ＦＥ电镜下拍摄的高分辨像，一方面...     

缺陷晶体电子衍射波振幅的校正

在运动学近似下，通过解卷处理，可以从单张高分辨电子显微像（以下简称高分辨像）获得晶体的结构像。李方华和何万中等人曾用此技术处理了场发射电子显微镜拍摄的高分辨像，处理后的像分辨率达电子显微镜的信息分辨极限，得到了原子分辨率的晶体缺陷图像［１，２］。但由...