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红外焦平面阵列非均匀性校正技术的最新进展 总被引:11,自引:4,他引:7
面列阵红外焦平面探测器的非均匀性校正技术是正在探索的一项关键技术。介绍了近期国内外发展的红外焦平面阵列非均匀性校正技术:基于场景的代数算法、基于干扰抵消原理的自适应校正法和基于低次插值的多点校正法。 相似文献
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