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1.
以粉煤灰、矿粉和硅灰为混合材,与硅酸盐水泥熟料和石膏复合制备一种水泥基胶凝材料,通过内掺法研究偏高岭土对水泥基胶凝材料力学性能和耐久性能的影响,并利用激光粒度分布曲线、XRD和SEM验结果表明,随偏高岭土掺量的增加,水泥砂浆3d强度逐渐下降,28d强度逐渐增加,然后趋于稳定。当掺量超过9%时,强度的改善效果不显著;同时,偏高岭土的掺入,提高了砂浆的抗渗性能、降低了混凝土的氯离子扩散系数,并在偏高岭土掺量为0%-9%范围内作用效果明显。  相似文献   
2.
带关键字搜索的公钥加密(PEKS)是一种有用的加密原语,它允许用户将在加密数据上搜索的功能委托给不可信的第三方服务器,而不影响原始数据的安全性和隐私性。但是,由于缺乏对于数据的加密以及解密能力,PEKS方案不能单独进行使用,必须与标准的公钥加密方案(PKE)相结合。因此,Baek等人在2006年引入了一种新的加密原语,称为结合PKE和PEKS的加密方案(PKE+PEKS),它同时提供了PKE和PEKS的功能。目前,已有文献提出了几种PKE+PEKS方案。然而,他们都没有考虑关键字猜测攻击的问题。本文提出一个新的高效且能够抵抗关键字猜测攻击的PKE+PEKS方案,与已有方案相比,该方案在性能上有很大的提升,并且在生成关键字和数据密文时,不需要使用双线性对,极大地降低了计算和存储成本。安全性分析表明,本文中所提出的方案能够满足密文隐私安全性、陷门不可区分性和抗关键字猜测攻击的安全性。效率分析表明,本分提出的方案更加高效。  相似文献   
3.
本文以辽溪铁路辽阳至安平段改移工程为例,理论联系实际地阐述了无缝线路的应力放散及线路锁定施工工艺流程。  相似文献   
4.
Mg of Gap doping characteristics in MOCVD have been studied by using SIMS (Secondary Ion Mass Spectrometry) measurement. The experimental results show that the Mg incorporation is considered to be limited by Mg revaporization from the growth surface under the higher temperature and the Mg electrical activity decreases with increasing cP2Mg flowrate. The activation energy of Mg in GaP is also respectively obtained.  相似文献   
5.
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布.在适当的测量深度,用扩展电阻探针技术测得的结果对二次离子质谱技术测量的结果进行了标定,从而得到硅片中硼原子的深度分布.用近似模型估算了扩展电阻探针针尖半径对测试分辨率的影响.若探针针尖半径为r0,测量斜面的角度为ξ,在用扩展电阻探针技术测量载流子浓度的深度分布时,可以近似认为深度分辨率为7.86r0sinξ.还定性讨论了样品表面耗尽层对扩展电阻探针技术的影响.  相似文献   
6.
介绍用SIMS、TEM、SRP等技术检测Ca扩散杂质分布及工艺中存在的问题,提供改进工艺的技术依据。  相似文献   
7.
利用二次离子质谱和扩展电阻探针技术测量了硅中注入硼的深度分布 .在适当的测量深度 ,用扩展电阻探针技术测得的结果对二次离子质谱技术测量的结果进行了标定 ,从而得到硅片中硼原子的深度分布 .用近似模型估算了扩展电阻探针针尖半径对测试分辨率的影响 .若探针针尖半径为r0 ,测量斜面的角度为 ξ ,在用扩展电阻探针技术测量载流子浓度的深度分布时 ,可以近似认为深度分辨率为 7 86r0 sinξ.还定性讨论了样品表面耗尽层对扩展电阻探针技术的影响.  相似文献   
8.
在互联网技术高度发达的今天,人们越来越习惯把个人数据上传到云端进行存储。传统可搜索公钥加密方案仅支持对精确的关键字进行搜索,用户需要精确地输入搜索关键字,且需要使用安全信道来传输陷门,降低了系统的可用性。针对安全信道,本文结合公钥加密技术提出一种无安全信道的模糊关键字搜索加密方案。该方案在不使用安全信道的情况下也能保证信息的隐私性,使用通配符技术来降低关键字集的空间大小,并且给出安全性验证。  相似文献   
9.
方培源  曹永明 《质谱学报》2006,27(Z1):15-16
Conventional quantitative analysis of SIMS is based on the calibration with standards. In this paper, some impurities in Aluminum bulk material were quantitatively analyzed using natural abundance of the isotope and known relative secondary ion yield of the elements. The analysis results are compared with the results of other quantitative analysis techniques, such as atomic emission spectrometer and glow discharge mass spectrometer(GDMS).  相似文献   
10.
介绍了电子显微镜和二次离子质谱仪(SIMS)两种当前主要的微分析工具在四元InGaAlP发光二极管(LED)外延片分析过程中的应用,讨论了它们各自的适用领域,指出两者有机的结合可以得到比较全面的分析结果,为工艺监控和工艺改进提供了参考.  相似文献   
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