白砂糖色值近红外光谱分析的波段选择

采用近红外漫反射光谱技术和偏最小二乘法(PLS)建立白砂糖色值的定量分析模型.用多元散射校正方法对光谱进行预处理,再用Savitzky-Golay平滑化方法对原谱、一阶导数谱和二阶导数谱进行处理.选取5个波段,每个波段分别采用原光谱、一阶导数谱、二阶导数谱.同时调整Savitzky-Golay平滑点数和PLS因子数,通过多次PLS数值实验比较,按照预测效果确定每个模型的最优平滑点数、因子数,再从中选优.结果表明,采用780～1100nm-阶导数谱的定标效果最好,模型的预测均方根偏差、相对预测均方根偏差分别为11.2,8.91%.780～1100nm可以代替近红外全谱波段(780～2500nm)得到好的定量分析效果,为设计小型专用近红外分析仪器提供依据.     

聚合物纳米复合电介质界面微区原位测试研究进展

聚合物纳米复合电介质具有优异的电学、热学以及力学性能,在电力和能源等领域被广泛应用。研究者们将聚合物纳米复合电介质的特殊性能归因于基体与纳米颗粒之间形成的界面。但是传统的研究手段不能给出界面作用机理的直接证据,因此近年来以原子力显微镜为基础的界面微区原位测试成为重要的研究方法。该文首先对原子力显微镜的基本原理做简要介绍,然后对基于原子力显微镜的微区测试进行综述,包括线性电介质复合材料介电特性、铁电聚合物复合材料极化特性、电荷分布与输运、微区红外光谱等方面,最后对目前聚合物纳米复合电介质材料界面微区原位测试中存在的问题进行讨论,并展望界面微区研究未来的发展方向。