系统芯片中低功耗测试的几种方法

在系统芯片可测试性设计中考虑功耗优化问题是当前国际上新出现的研究领域。在可测试性设计中考虑功耗的主要原因是数字电路在测试方式下的功耗比系统在正常工作方式下高很多。测试期间的功耗会引发系统成本上升，可靠性降低，成品率下降。本文介绍低功耗测试技术中的一些基本概念，对已有的几种主要的降低测试功耗方法进行分析，最后给出一种高性能微处理器的真速低功耗自测试方法。     

集成电路/计算机硬件描述语言标准Verilog 的标准化工作

1前言Ｖｅｒｉｌｏｇ是一种硬件描述语言,从诞生起就与生产实际紧密结合在一起,具有结构清晰、文法简明、功能强大、高速模拟和多库支持等优点,并获得许多工具的支持,深受用户的喜爱。Ｖｅｒｉｌｏｇ实际上是ＩＣ行业标准,特别是在1995年12月被ＩＥＥＥ接纳为正式标准后,...     

大信号有源器件S参数测试方法研究

利用ＨＰ８５１０自动网络分析仪小信号测试系统，研究实现了在信号Ｓ参数的测试方法，并建立了大信号Ｓ参数测试系统。研究设计的适应多种尺寸的有源测试夹具和整个系统的误差修正方法，使建立的该系统具有与ＨＰ８５１０系列分析仪同等的指标。     

GaAsFET大信号模型与参数提取

提出适用于功率ＧａＡｓＦＥＴ的新的大信号模型以及脉冲Ｉ－Ｖ和小信号Ｓ参数相结合的整体化参数提取方法。用研制出的大信号建模软件提取了功率ＦＥＴ的大信号模型参数，并用该模型模拟和测量了器件大信号Ｓ参数，结果完全一致。     

通用于GaAs MESFET和HEMT的精确I_(ds)模型

回顾了十年来国内外在ＧａＡｓＦＥＴ大信号模型方面的研究进展，提出了可用于ＭＥＳＦＥＴ和ＨＥＭＴ的统一的精确沟道电流模型。     

硫钝化表面改善GaAs MESFET电特性

本文介绍了一种适用于ＧａＡｓ ＭＥＳＦＥＴ表面钝化的新方法。通过对器件进行硫钝化处理，我们发现钝化能使器件的击穿电压提高和表面漏电减少。我们认为造成这种现象的原因，是由于硫钝化减少了栅漏附近的ＧａＡｓ表面态密度。     

微波功率电路的热电耦合CAD研究

本文提出了一种新的方法有竽微波功率电路的热电一体化设计。该方法是谐波平衡技术的扩展，其特点是同时模拟功率电路的电性能和电路中有源器件的结温，并具有很好的计算效率。该方法已实现在通用微波非线性模拟软件中，一个Ｃ波段功率放大器的模拟和测量结果的比较主宰了本文方法较传统的电学ＣＡＤ方法更为精确和全面。     

GaAs FET大信号模型与参数提取

提出适用于功率ＧａＡｓＦＥＴ的新的大信号模型以及脉冲Ｉ－Ｖ和小信号Ｓ参数相结合的整体化参数提取方法。用研制出的大信号建模软件提取了功率ＦＥＴ的大信号模型参数，并用该模型模拟和测量了器件大信号Ｓ参数，结果完全一致。     

硬件描述语言Verilog的建模技术

通过对Verilog语言的导次化建模,门级建模,数据流级建模,行为建模,开关级建模等各个抽象层次的研究,全面阐述了Verilog的建模方法,对于理解,使用和制订我国的Verilog语言标准会有所帮助。     

SOC测试数据的编码压缩技术

文章介绍了一种基于测试向量集的压缩／解压缩方法，目的在于弥补SOC测试中,测试设备存储容量不足的问题，分析了三种不同的编码方案，并从压缩率和解码电路的规模对它们作了比较，得出了使用Golomb编码来进行测试向量压缩／解压缩是简单而又行之有效的方法的结论。文章还给出了一个有效的最小海明距离排序算法，大大的提高了测试数据的压缩率。